Описание
Лазерный линейный сканирующий конфокальный микроскоп серии L представляет собой мощный инструмент визуализации, сочетающий в себе принципы конфокальной микроскопии с возможностью исключительно быстрого получения ряда изображений вдоль линии. Этот инновационный метод микроскопии произвел настоящую революцию в изучении динамики биологических процессов и быстро происходящих процессов в материаловедении.
В отличие от традиционной конфокальной микроскопии, где изображения формируются попиксельно с помощью растрового сканирования, конфокальный микроскоп с линейным сканированием фиксирует целую полосу информации одновременно. Благодаря существенному сокращению времени сбора данных, такая методика идеально подходит для наблюдения за быстродвижущимися объектами, динамическими клеточными процессами и живыми биологическими образцами с минимальными артефактами от движения.
В основе принципа работы высокоскоростного конфокального микроскопа с линейным сканированием лежит способность сканировать образец полинейно, одновременно собирая излучаемую флуоресценцию или отраженный свет от этой же линии. Такой синхронизированный подход не только обеспечивает быстрое получение изображений, но также сводит к минимуму расфокусировку и повышает контрастность, аналогично традиционной конфокальной микроскопии.
Внедрение высокоскоростной конфокальной микроскопии с линейным сканированием открыло новые горизонты в научной работе, позволяя проводить исследования ранее недоступных для микроскопии быстрых биологических и небиологических процессов. Возможность получения детальных последовательных изображений с миниальным фотообесцвечиванием и фототоксичностью делает эту технику незаменимой для ученых и исследователей в широком спектре дисциплин.
Пьезо-столики для XY-микроскопов производства компании Simtrum, специально разработанные для микроскопов серии SIMSCOP, способны обеспечить точное моторизованное позиционирование образцов по оси XY.
Преимущества
- Высокая скорость получения изображений (50 к\с, разр. - 1024x1000 пикс.)
- Сильное оптическое секционирование
- Одномолекулярная визуализация
- Многоцветная флуоресценция (Макс. 4 канала)
- Высокая чувствительность
- Модуль глубокой визуализации (Макс. глубина: 600 мкм)
- Широкое поле обзора (60X: 0.36 мм, 40X: 0.54 мм)
- Низкое фотообесцвечивание и фототоксичность
Сферы применения
Промышленная серия L:
Стандартный одноволновой линейный детектор, предназначенный для простой визуализации сильной флуоресценции и визуализации отражения. Применяется в материаловедении, обнаружении флуоресценции составов и поверхностных дефектов.
Исследовательская серия L:
Четырехволновой высокочувствительный CMOS-детектор с обратной засветкой, предназначенный для визуализации слабой биологической флуоресценции. Применяется для исследования биологических клеток и патологических тканей. Модуль глубины можно использовать для визуализации плотных тканей in vivo и мелких животных. Серия ориентирована на крупные исследовательские проекты в биомедицинских исследовательских институтах и пользователей общедоступных инструментальных платформ, а также медицинские лабораторные испытательные учреждения.
Скоростное получение изображений (50 к\с, разр. 1024x1000 пикс.)
Благодаря различным методам сканирования скорость захвата при сополимеризации с линейным сканированием как минимум в 100 раз выше, чем при использовании стандартной конфокальной технологии, при этом фототоксичная реакция и реакция фотообесцвечивания - относительно низки. Это не только оптимально для визуализации живых клеток и тканей, но и вполне подходит для фиксации быстрого забора образцов даже у мелких живых животных.
Большое поле обзора и высокая чувствительность
Данные CMOS-камеры исследовательского класса с обширным эффективным полем обзора оснащены сенсором с разрешением до 5,5 мегапикселя и объективом с 60-кратным увеличением (0,36 мм) и 40-кратным увеличением (0,54 мм) для максимального обзора. Максимизация поля обзора флуоресцентной микроскопии становится все более важной в широком спектре приложений, включая сканирование больших площадей клеток, визуализацию развивающихся эмбрионов, картирование нейронов и визуализацию тканей.
Модуль глубокой визуализации (Макс. глубина: 600 мкм)
Модуляция фокуса линейного сканирования — это новый метод микроскопического наблюдения, который обеспечивает большую глубину проникновения на основе конфокальной микроскопии. Используя комбинацию электрооптического модулятора и жидкокристаллической фазовой пластинки разработанной в компании Simtrum, модулируется только интенсивность флуоресценции сигнала в фокусе, а рассеянный и фоновый свет - нет. Благодаря принципу технологии модуляции и демодуляции извлекается сильный сигнал фокальной области, тем самым улучшается соотношение сигнал-шум и сигнал-фон изображения на 20-30 дБ, что в свою очередь улучшает глубину изображения. Такая глубина проникновения примерно в два-четыре раза больше, чем при использовании традиционной конфокальной микроскопии.
Система контроля дефектов пластин способна обнаружить физические дефекты (посторонние вещества, называемые частицами) и дефекты рисунка на пластинах, а также получает координаты положения дефектов по оси X-Y.
Применение конфокальной техники линейного сканирования позволяет ускорить время осмотра более чем в 10 раз.
Референтная таблица скорости обнаружения
| Датчик |
Высокоскоростная ПЗС-матрица |
Высокоскоростная sCMOS |
| Пикселей на строку |
4096 x 256 |
9072 x 256 |
| Пикселей на строку (по горизонтали) |
4096 |
9072 |
| Ширена пикселя (мм) |
0.0050 |
0.0050 |
|
Скорость сканирования камеры с линейной решеткой (Линий/сек.)
|
200000 |
510000 |
| Увеличение (Сухая линза) |
20X |
60X |
20X |
60X |
| NA |
0.50 |
0.90 |
0.50 |
0.90 |
| Разрешение визуализации (нм): 0.61 λ/NA |
494 нм |
274 нм |
494 нм |
274 нм |
| Время сканирования (сек):
Площадь выборки / площадь сканирования в сек.
|
397.3 |
2136.6 |
72.0 |
379.9 |
| Время осмотра одной пластины |
6 м 37 с |
35 м 36 с |
1 м 12 с |
6 м 20 с |
| Со стандартными сериями микроскопов |
Время обнаружения с 60X линзами объектива 1 - 1.5 ч |
Подробные характеристики
| Параметры |
Промышленная серия L |
Исследовательская серия L |
| Лазерный источник света |
Стандартная длина волны: 405±5 нм
Выходной режим: одномодовое волокно с сохранением поляризации (TEM00)
Выходная мощность на одной длине волны: >20 мВт;
Стабильность мощности: <1%
Ширина спектральной линии: <3 нм
ТТЛ-модуляция, 1 кГц
Точность регулировки мощности лазера: 1%
Дополнительные длины волн: 375/445/473/515/525/532/
633/660/685/785/808 нм |
Стандартная длина волны: 405±5 нм / 488±5 нм /561±1 нм / 640±5 нм
Выходной режим: одномодовое волокно с сохранением поляризации (TEM00)
Выходная мощность на одной длине волны: >20 мВт;
Стабильность мощности: <1%
Ширина спектральной линии: <3 нм
ТТЛ-модуляция, 1 кГц
Точность регулировки мощности лазера: 1%, многоволновая регулировка мощности AOTF
Дополнительные длины волн: 375/445/473/515/525/532/633/660/ 685/785/808 нм |
| Датчики |
Камера линейного сканирования TDI; Разрешение: 4095x256;
Длина волны: 380nm-1000nm;
Ширина пикселя в битах: 8/10/12 бит, Пиковая квантовая эффективность (QE): 85% при 480 нм;
Шум при считывании: 16e-
Частота кадров: 200 кГц |
CMOS с задней подсветкой; Разрешение: 9072x256;
Длина волны: 200-1100 нм;
Ширина пикселя в битах: 8/10/12 бит;
Пиковая квантовая эффективность (QE): 82% при 550 нм; 50% при 350 нм,
Шум при считывании: 3.5e-
Частота кадров: 12бит: 300 кГц；
10 бит; 350 кГц; 8,bn; 510 кГц. |
| Модуль сканирования |
Пиксели сканирования 100x100-2048x2048
Частота кадров: 20 к\с (1024x1000 пикселей),
200 к\с (1024x100 пикселей) режим быстрого сканирования |
Пиксели сканирования 100x100-2048x2048
Частота кадров: 50 к\с (1024x1000 пикселей)
500 к\с (1024x100 пикселей) режим быстрого сканирования |
| Разрешение XY |
Стандартный модуль сканирования:
230 нм при 100x масляном объективе |
Стандартный модуль сканирования:
230 нм при 100x масляном объективе
Модуль глубокого сканирования: 150-200 нм |
| Глубина визуализации |
Поверхностное сканирование |
Стандартный модуль сканирования < 100 мкм
Модуль глубокого сканирования < 600 мкм |
| Площадь обзора |
5x: 1 мм x 1 мм | 10x: 0.51 мм x 0.51 мм | 20x: 0.26 мм x 0.26 мм
40x: 0.13 мм x 0.13 мм | 60x: 85 мкм x 85 мкм | 100x: 51 мкм x 51 мкм |
| Фильтрующий блок |
1 из комплектаций:
DAPI EM 445/50 нм
FITC EM 530/50 нм
TRITC EM 605/60 нм
Cy5 EM 695/40 нм |
4 комплектации:
DAPI EM 445/50 нм
FITC EM 530/50 нм
TRITC EM 605/60 нм
Cy5 EM 695/40 нм |
| Окуляр |
WF10X/23 широкоугольный окуляр; Вынесенная точка фокусировки; Центрирующий телескоп |
| Окулярная трубка |
наклон 45°, регулируемое расстояние между окулярами - 50–75 мм; Регулируемая диоптрия
|
| Конвертер объектива |
Конвертер с пятью отверстиями внутреннего позиционирования; Полушарнир для внутреннего позиционирования
|
| Столик |
Ручной: 240 x 260 мм фиксированный; Дистанция движения: 135 x 85 мм
Моторизированный: размер мин. шага: 50 нм; Повторяемость +/- 0.1 мкм
Макс. скорость：≥100 мм/с; Размер столика: ≥270x170 мм
Шаг : X:110 мм,Y:75 мм; Максимальная нагрузка >1 Кг (по горизонтали) |
| Z-драйвер |
Разрешение фокусировки/мин. шаг: 0.05 мкм; Повторяемость: +/-0.2 мкм; Максимальный шаг: 10 мм |
| Механизм фокусировки |
Грубая/тонкая коаксиальная настройка с ограничителями и запорными механизмами,
Маховик коаксиальной регулировки низкого уровня; Точность регулировки маховика: 1 мкм |
| Система проходящего освещения |
Тёплый светодиод, плавная регулировка яркости
Регулятор яркости с вращением светодиодаКонденсатор: 72 мм, сверхдлинное рабочее расстояние, NA=0.30, Оснащен кольцевой фазово-контрастной пластиной с тремя отверстиями. |
| Система эпифлуоресцентного освещения |
Многодиапазонный светодиодный источник света МГ-100
Модуль флуоресценции на 6 отверстий
УФ(U)EX: 375/30 нм；DM:415；EM: 460/50 нм
Синий(B)EX: 475/30 нм；DM:505；EM: 530/40 нм
Жёлтый(Y)EX: 540/25 нм；DM:565；EM: 605/55 нм
Красный(R)EX: 620/50 нм；DM:655；EM: 692/45 нм |
| Функции ПО |
Многоцветная обработка локализации флуоресценции; обработка данных Z-стека; Сшивка большого изображения
Анализ изображений; Управление данными визуализации; построение 3D-изображений
|
