Микроскопия

Микроскоп SpinDisk Basic объединяет в себе гибкость и высокую эффективность, предлагая покупателю свободный выбор геометрии поворотного стола, наиболее пригодной для сферы деятельности (глубинная визуализация, быстрая визуализация в реальном времени).

Микроскоп серии SIMSCOP L Лазерный линейный сканирующий конфокальный микроскоп, Стандартная длина волны -  4405±5 нм, поле обзора 60X: 0.36 мм, 40X: 0.54 мм, скорость сканирования (conf) - до 4 кадр/с, шаг: X-110 мм, Y-75 мм, Z-9 мм.

Прибор серии MIC-PL(XXX) представляет собой измерительную систему флуоресцентной спектроскопии лазерного возбуждения на микро-уровне. «XXX» обозначает длину волны. Качество визуализации сопоставимо со стандартными микроскопами.

Столик с температурным контролем для рентгеновской дифрактометрии представляет собой устройство для изучения дифракции рентгеновских лучей на образце при переменной температуре. Температурный диапазон образца - от -190 до 600 °C и от комнатной температуры до 1200°C в вакууме \ инертном газе \ на воздухе. Также устройство поддерживает переоснащение под различные существующие рентгеновские дифрактометры (Bruker, Thermo Fisher, Rigaku, и т.п.).

Столик с контролем температуры - важное оборудование для научных исследований, применяемое в таких отраслях, как материаловедение, геология, пищевая промышленность и медицина. Столик можно комбинировать с оптическими, рамановскими, флуоресцентными микроскопами, и прочими приборами, для решения задач, требующих быстрого нагревания или охлаждения образца при наблюдении его структурных и морфологических изменений.

Прибор спроектирован на основе оптического температурного столика, с установкой электрического модуля. Перемещая иглу во время тестирования, можно обеспечить контакт с любой областью поверхности образца. Электрический сигнал от образца передаётся на приборы, через контакты, подключённые к держателю иглы, на этих приборах проводится анализ электрических свойств материала при переменной температуре.

Температурный столик с электрическим зондом специально разработан для характеризации температурной зависимости электрических свойств при фазах нагревания и охлаждения материалов.

Рамановские конфокальные микроскопы  широкого поля, серия Raman S1\S2 SIMSCOP Raman S1 Одноканальный лазер, длины волн: 532/638/785 нм (опционально), Мощность лазера: 100 мВт, Шаг развёртки: 0.003 нм, Типичный рамановский диапазон: 150~3200 см-1, Разрешение: ~200 нм с 100x объективом, ручная регулировка отверстия, размер одномодового пятна: ~1 мкм при 50x, Совместим с прямыми и инвертированными микроскопами, а также со стандартными развёртываемыми, высоко- / низкотемпературными и вакуумными столиками. SIMSCOP Raman S2 Многоканальный лазер (до 5 каналов), длины волн: 405/532/638/785/1064 нм (опционально), Мощность лазера: 100 мВт, Шаг развёртки: 0.001 нм, Поддержка ближнего ИК спектра, Типичный рамановский диапазон: 150~3200 см-1, Разрешение: ~200 нм с 100x объективом, бесступенчатая автоматическая регулировка отверстия, размер многомодового пятна: ~1 мкм при 50x, Совместим с прямыми и инвертированными микроскопами, а также со стандартными развёртываемыми, высоко- / низкотемпературными и вакуумными столиками.

Микроскоп серии SIMSCOP P Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп, Стандартная длина волны -  405/488/561/640 нм (638 нм), двухосный XY высокоскоростной оптический сканирующий гальванометр, поле обзора 15 x 15 мм, пиксели сканирования 512 x 512  ~ 4096 x 4096, скорость сканирования - до 4 кадр/с, шаг: X-110 мм, Y-75 мм, Z-9 мм.