Микроскопия - Крио: Фотоника

TCSPC система для тестирования SPAD детекторов SIMSCOP

valentin — Fri, 12 Jan 2024 13:42:49 +0000

Принципы работы системы тестирования SPAD (ЛФД)

Данная система тестирования пригодна для гейгеровского режима работы SPAD. С помощью технологии стробированного гашения и источника квази-одиночных фотонов, система способна измерять значение лавинного напряжения SPAD Va, темновая скорость счета DCR, эффективность обнаружения одиночных фотонов SPDE. Так же, с расчётом вероятности импульса Pa и временного джиттера TJ, систему можно применять в качестве платформы для тестирования на массовом производстве и для тестирования производительности SPAD (ЛФД).

Общие принципы работы и задачи системы описываются следующим образом:

1) Эффективность обнаружения одиночных фотонов (SPDE) SPAD: если в соответствии со средним числом фотонов на импульс 𝜇 для данного лазера (обычно 𝜇 = 0,1) измеряется вероятность темновой скорости счёта, генерируемой каждым стробируемым импульсом SPAD 𝑃𝑑 , и вероятность связанных счётов, генерируемых каждым световым импульсом 𝑃𝑒, то эффективность однофотонного обнаружения SPDE можно рассчитать следующей формулой:

Как правило, вероятность темнового счета 𝑃𝑑 намного меньше 1, а когда 𝜇 = 0,1 вероятность счета корреляции оптических импульсов 𝑃𝑒 также намного меньше 1, тогда SPAD можно свести к формуле:

2) Нормализованная скорость темнового счета DCR SPAD: поскольку SPAD работает в стробируемом режиме с определенной шириной затвора 𝜏, для единообразия, скорость темнового счета — SPD 𝑃𝑑, то есть вероятность темновых отсчетов, генерируемых каждым импульсом стробирования, преобразуется в темновую скорость счета в режиме Гейгера SPAD, то есть в нормированную темновую скорость счета 𝑅𝑑:

3) Вероятность импульса после SPAD 𝑃𝑎: Этот параметр, как правило, должен указывать рабочую частоту стробирования, которая характеризует общую вероятность последующих лавинных импульсов, вызванных попаданием эффективных фотонов, вызванных захватом и высвобождением фотоэлектронов внутренними дефектами в SPAD при удельной рабочей частоте стробирования[1]. Пусть общее количество SPD в единицу времени равно 𝑅𝑠, количество темновых отсчётов в единицу времени равно 𝑅𝑑, а количество единичных интервалов времени отсчёта, связанных со временем прибытия фотона, равно 𝑅𝑒, если частота затвора равна 𝐹𝑔, а частота импульса падающего фотона равна 𝐹𝑝, то вероятность постимпульса 𝑃𝑎 рассчитывается по формуле:

4) Временной джиттер SPAD: в стробируемом режиме также можно измерить выходной джиттер лавинного сигнала относительно сигнала синхронизации оптического импульса. Этот параметр представляет собой флуктуацию времени однофотонной лавинной релаксации SPAD. Обычно для подсчета эффективного лавинного сигнала используется коррелированный по времени однофотонный счетчик, ПШПВ временной гистограммы 𝑡𝑗𝑖𝑡𝑡𝑒𝑟,𝐹𝑊𝐻𝑀 либо широкополосный осциллограф для подсчета эффективных помех 𝑡𝑗𝑖𝑡𝑡𝑒𝑟,𝑅𝑀𝑆 сдвига по времени относительно лавинного сигнала к сигналу синхронизации оптического импульса. Формула для расчёта временного джиттера распределения, близкого к гауссову:

Решение TCSPC для тестирования Bare Chip SPAD (APD)

Система тестирования Bare Chip SPAD (APD) в свободном пространстве

В состав системы должны входить пикосекундный импульсный лазерный прибор QLD-301, оптическая установка в свободном пространстве, цифровой генератор импульсов с задержкой для управления затвором, крио-столик для охлаждения до 70 К, измеритель оптической мощности, референсный УЗИП и главный синхронизатор TCSPC.

Оптоволоконная система тестирования Bare Chip SPAD TCSPC

В состав системы должны входить пикосекундный импульсный лазерный прибор QLD-301, оптоволоконная оптическая установка, второй импульсный лазерный прибор QLD-301, оптоволоконная установка, цифровой генератор импульсов задержки для управления затвором, специально изготовленная оптоволоконная криосистема для охлаждения до 70 К, измеритель оптической мощности, референсный УЗИП и главный синхронизатор TCSPC.

Устройство пикосекундного импульсного лазера QLD-301

● Модуль генератора сигналов (распределение источника тактовой частоты): способен получать внешний опорный тактовый сигнал или использовать внутренний источник тактового сигнала для генерации синхронизированного сигнала запуска лазерного импульса и сигнала APD с регулируемой относительной задержкой. Частота тактового сигнала управления затвором APD является целым кратным сигнала лазерного триггера. Доступная частота: 2, 5, 10, 20, 50 и 100;

● Пикосекундный импульсный лазер (импульсный лазер): способен генерировать лазерные импульсы, синхронизированные с тактовым сигналом триггера на той же частоте. Длительность импульса составляет менее 50 пс, а коэффициент затухания превышает 40 дБ. Генерируемый тактовый сигнал лазерной синхронизации используется в качестве входного сигнала модуля счета;

● Модуль контроля оптической мощности и затухания (ATT): контролирует затухание лазерного импульса, чтобы ослабить его до уровня одиночного фотона и обеспечить стабильность мощности импульса посредством высокочувствительного мониторинга оптической мощности.

Главный синхронизатор

● 4-канальный вход и выход, настраиваемый номер канала, высокое разрешение, ширина интервала до 13 пс, джиттер синхронизации на канал 5,7 пс.

● Максимальный диапазон входного напряжения — от -3 до 3 В (настраивается)

Генератор импульсов высокого напряжения

● 4 импульсных выхода и 8 выходов задержки, среднеквадратичный джиттер менее 25 пс, частота запуска до 10 МГц.

● Триггерные сигналы высокого напряжения до 10 В. Важно для прибора тестирования SPAD.

● Время нарастания и спада до 55 пс.

Референсный детектор УЗИП

● Охват длины волны — 900–1700 нм (возможно переключение на визуальный диапазон для других приложений)

● Временное разрешение — 150 пс. Темновая скорость счета — 20% при 3 кГц, регулируемое время задержки — от 1 мкс до 100 мкс

Оптическая система ближнего ИК-диапазона в свободном пространстве с крио-столиком

● Размер лазерного пятна на уровне мкм на испытательном образце, с коаксиальной системой ближнего ИК-видения для оптической регулировки

● 2 регулируемых зонда для тестирования сигналов электроники, температура крио-столика может достигать -77K (LN2)

Специально изготовленная волоконная система крио-столиков для охлаждения до 70 К

● В испытательную камеру помещаются специальные оптоволоконные вставки с углом оптического выхода 85 градусов.

● Система визуального увеличения с обзором сверху и сбоку для выравнивания волокон.

● 2 регулировочных рычага зонда для тестирования сигналов электроники. Температура крио-сцены может достигать -77K (LN2).

Производительность лазера

Параметр	Характеристика	Примечание
Лазер QLD-301-1550
Частота повторения лазера	1 МГц ~ 1.25 ГГц	Для систем тестирования SPAD рекомендуемый диапазон частот лазерных импульсов составляет 1–100 МГц, триггер — внутренний.
Минимальная длительность импульса	< 50 пс, ПШПВ
Временной джиттер	< 20 пс, ср. квадр.	Измерено относительно выхода сигнала синхронизации (Sync out)
Коэффициент затухания импульса	>40 дБ
Центральная длина волны	1550 нм
Диапазон внутренней задержки триггера	0~1000 нс	В системе тестирования SPAD применяется внутренняя синхронизация для генерации синхронного тактового сигнала вспомогательного выхода (AUX OUT) для тактового сигнала триггера затвора SPAD.
Точность регулировки задержки	10 пс
Чувствительность мониторинга оптической мощности	<-75 дБм	Внутренняя чувствительность PD — не хуже -75 дБм, внешнее твердое затухание в 35 дБ может поддерживать минимальный диапазон обнаружения мощности -110 дБм, что соответствует требованиям обнаружения оптической мощности μ = 0,1 на частоте 1 МГц.
Внутренне регулируемый диапазон затухания	0~40 дБ
Выходная частота вспомогательного тактового генератора	1 МГц ~ 1.25 ГГц	Так как тактовая частота запуска затвора SPAD может быть установлена целым числом, кратным частоте повторения лазерных импульсов.
Модуль генерации закрытого типа NPG-1Н20
Заданная внешняя частота триггера	Покрывает диапазон 0.1~100 МГц
Ширина затвора	Покрывает диапазоны 0.5~2 нс, 10 пс/шаг	Регулировка кодировщика
Амплитуда затвора	Покрывает диапазон 4~6.4 В, не хуже чем 100 мВ/шаг	Регулировка кодировщика
Полярность импульса	Положительный импульс
Время нарастания	<120 пс	20%~80%
Время спада	<150 пс	20%~80%
Цифровая задержка / генератор импульсов
Каналы	4 либо 8 выходов
Джиттеры	<25 пс
Выход напряжения	До 30 В	Сигнал высокого напряжения на затворе
Время нарастания и спада	100 пс
Датчик одиночных фотонов
диапазон длин волн	900-1700
Диапазон времени затухания	0.1-100
Темновая скорость счёта	20% @3Khz
Разрешение во времени	150ps
оптоволоконное соединение	MMF62.5 or Free space
Главный синхронизатор
	4 входа и выхода
Ширина бина	13 пс
Временной джиттер	8 пс
Скорость счёта	1 Ггц

Решение TCSPC для тестирования корпусного SPAD (APD) TO46 или TO8

Комплексная система тестирования SPAD состоит из пикосекундного импульсного лазерного прибора QLD-301, модуля генерации управления затвором NPG-1H20, основного испытательного модуля управления ATE-301 и испытательной платформы (включая холодильную установку с водяным охлаждением TO46). Также необходим набор инструментов TCSPC. Система применяется для испытания постимпульсного и временного джиттера. Среди них QLD-301 — пикосекундный импульсный лазер со встроенным источником сигнала, способный генерировать электрические и оптические импульсы с регулируемой задержкой (на данный момент это независимый прибор, который в дальнейшем может быть модернизирован до модуля платы платформы);

NPG-1Н20 способен генерировать стробируемый импульсный сигнал с регулируемой амплитудой и шириной импульса; часть ATE-301 содержит блоки режима корреляции APD (генерация высокого давления, регулирование охлаждения и температуры, двухканальный селективный счетчик); в тестовый пример входят блок охлаждения и извлечения сигналов TO46, объединительная плата платформы и т. д. Блок охлаждения и извлечения сигналов TO46 составляют: радиатор водяного охлаждения, теплоизоляционная конструкция, холодильная установка TEC, схема подавления пиковых шумов и схема извлечения сигналов, прибор TO-46 и интерфейс сигналов и т. д. Состав и принципиальная блок-схема системы показаны на схема ниже:

Рис. 1. Состав системы и принципиальная блок-схема тестовой платформы SPAD.

Компоненты пикосекундного импульсного лазера QLD-301:

● Модуль генератора сигналов (распределение источника тактовой частоты): способен получать внешний опорный тактовый сигнал или использовать внутренний источник для генерации синхронизированного тактового сигнала запуска лазерного импульса и сигнала APD с регулируемой относительной задержкой. Как правило, частота тактового сигнала управления затвором APD является целым кратным тактового сигнала лазерного триггера. Возможные варианты частоты: 2, 5, 10, 20, 50 и 100;

● Пикосекундный импульсный лазер (импульсный лазер): способен генерировать лазерные импульсы, синхронизированные с тактовым сигналом триггера на той же частоте, длительность импульса составляет менее 50 пс, а коэффициент затухания превышает 40 дБ. Помимо прочего, генерируемый им тактовый сигнал лазерной синхронизации используется в качестве входного сигнала модуля счета;

Компоненты модуля управления затвором NPG-1H20:

● Триггерный вход и блок контроля, частота триггера охватывает диапазон 0,1 ~ 100 МГц, блок совместим с триггерным входом любого уровня;

● Регулируемая амплитуда управления затвором, диапазон регулировки — 4 ~ 6,4 В, не хуже 100 мВ/шаг, возможна регулировка преобразователя;

● Регулируемая ширина затвора, диапазон регулировки — 0,5–2 нс, 10 пс/шаг. Возможна настройка преобразователя.

Компоненты основного тестирующего модуля управления ATE-301:

● Модули, связанные со SPAD: включая модуль генерации высокого напряжения, охлаждения и контроля температуры и др.; В основу системы положен принцип стробируемого гашения, для работы SPAD в стробируемом режиме. В данном режиме тестируются эффективность обнаружения, нормированная темновая скорость счета и вероятность послеимпульса SPAD;

● Модуль двухканального счетчика (двухканальный счетчик): используется для подсчета значения лавинного счетчика и может быть позже модернизирован до модуля подсчета совпадений. Также он автоматически измеряет вероятность послеимпульса путем синхронизации таймера с лазером для автоматического определения пика и счета совпадений.

Компоненты прибора для тестирования ТО-46:

● Система теплоизоляции TEC с водяным охлаждением: применение трехступенчатого холодильного листа промышленного класса в сочетании с технологией рассеивания тепла с водяным охлаждением позволяет достичь контроля температуры ≤-60 C при комнатной температуре 20 C, что соответствует минимальным требованиям СПАД; Тепловое излучение и тепловая конвекция сводятся к минимуму.

● Крепление SPAD и аналоговый интерфейс: оборудовано уникальным теплопроводником из чистой меди и высокоскоростным сбалансированным дифференциальным устройством для поддержки SPAD в корпусе TO-46 (максимальный внешний диаметр 6 мм), конструкция отличается простотой замены, и высоким шумоподавлением, что позволяет эффективно получать лавинный сигнал SPAD;

● Сигнальный интерфейс: оптический выход, RF-коаксиальный интерфейс и интерфейс DB9, применяемые для передачи однофотонного, стробируемого входного, и лавинного выходного сигнала, а также для управления высоким напряжением и температурой хоста системы соответственно.

Производительность 1

Параметр	Характеристика	Примечание
Лазер QLD-301-1550
Частота повторения лазера	1 МГц ~ 1.25 ГГц	Для систем тестирования SPAD рекомендуемый диапазон частот лазерных импульсов составляет 1–100 МГц, триггер — внутренний.
Минимальная длительность импульса	< 50 пс, ПШПВ
Временной джиттер	< 20 пс, ср. квадр.	Измерено относительно выхода сигнала синхронизации (Sync out)
Коэффициент затухания импульса	>40 дБ
Центральная длина волны	1550 нм
Диапазон внутренней задержки триггера	0~1000 нс	В системе тестирования SPAD применяется внутренняя синхронизация для генерации синхронного тактового сигнала вспомогательного выхода (AUX OUT) для тактового сигнала триггера затвора SPAD.
Точность регулировки задержки	10 пс
Чувствительность мониторинга оптической мощности	<-75 дБм	Внутренняя чувствительность PD — не хуже -75 дБм, внешнее твердое затухание в 35 дБ может поддерживать минимальный диапазон обнаружения мощности -110 дБм, что соответствует требованиям обнаружения оптической мощности μ = 0,1 на частоте 1 МГц.
Внутренне регулируемый диапазон затухания	0~40 дБ
Выходная частота вспомогательного тактового генератора	1 МГц ~ 1.25 ГГц	Так как тактовая частота запуска затвора SPAD может быть установлена целым числом, кратным частоте повторения лазерных импульсов.
Модуль генерации закрытого типа NPG-1Н20
Заданная внешняя частота триггера	Покрывает диапазон 0.1~100 МГц
Ширина затвора	Покрывает диапазоны 0.5~2 нс, 10 пс/шаг	Регулировка кодировщика
Амплитуда затвора	Покрывает диапазон 4~6.4 В, не хуже чем 100 мВ/шаг	Регулировка кодировщика
Полярность импульса	Положительный импульс
Время нарастания	<120 пс	20%~80%
Время спада	<150 пс	20%~80%
Основной модуль управления ATE-301-SYS
Диапазон высокого давления	регулируется: 50~90 В
Разрешение регулировки высокого напряжения	0.01 В
Предельная температура охлаждения	-60 C	При температуре в — 20 C и хорошей вентиляции.
Точность контроля температуры	± 0.1 C
Время охлаждения	<8 мин

Блок-схема подключения системы

На рис. ниже показана блок-схема подключения системы со всеми приспособлениями тестирования: ATE-301-SYS, NPG-1S20 и TO-46 расположенными на испытательной платформе, что позволяет уменьшить размер и облегчить эксплуатацию системы.

Структурная схема подключения испытательной системы ATE-301 TO-46 SPAD

Применимый пакет APD TO-46. Примерная схема

Приложение А. Метод калибровки среднего числа фотонов за лазерный импульс

Перед проверкой работоспособности SPAD необходимо точно откалибровать среднее количество фотонов в импульсе лазера. Процесс калибровки проводится следующими методами:

1. Метод косвенной калибровки мощности: рассчитайте необходимую выходную мощность в соответствии с частотой повторения оптических импульсов и средним количеством фотонов на импульс[2], а затем рассчитайте необходимое значение внешнего ослабления в соответствии с выходной мощностью QLD-301 (отображаемое значение или измеренное значение). Значение ослабления внешнего аттенюатора калибруется таким образом, чтобы конечная выходная мощность достигала заранее определенного значения. Основная проблема этого метода состоит в том, что он требует дополнительной калибровки значения ложного в эксплуатации внешнего аттенюатора.

2. Метод прямой калибровки мощности. В этом методе применяется высокоточный измеритель оптической мощности, например Keysight 81634B, номинальная точность измерения которого может достигать -110 дБм, но фактическая точность измерения составляет около -100 дБм. Если требуется, чтобы среднее количество фотонов на импульс составляло 0.1, то для калибровки оптических импульсов с частотой повторения выше 10 МГц применим только этот метод. Основной проблемой этого метода является его ограниченная сфера применения и высокая стоимость.

3. Метод прямой калибровки с подсчетом одиночных фотонов. В этом методе применяется детектор одиночных фотонов, эффективность обнаружения которого откалибрована для прямого подсчета одиночных фотонов. Поскольку эффективность обнаружения известна, среднее количество фотонов на импульс можно рассчитать напрямую, исходя из скорости счета и частоты оптического импульса[3]. Метод отличается высокой скоростью калибровки, хорошей повторяемостью, широким диапазоном применения, простотой и эффективностью.

Сравнение характеристик трех вышеуказанных схем — на следующей таблице:

Метод калибровки	Сложность	Стоимость	Точность измерения
Метод косвенной калибровки мощности	Выс.	Низ.	Низ.
Метод прямой калибровки мощности	Низ.	Выс.	Сред.
Метод прямой калибровки с подсчетом одиночных фотонов	Низ.	Сред.	Выс.

[1] Если SPAD работает в гейгеровском режиме, данный параметр обычно должен быть задан с определенным значением мертвого времени, но в данной системе применяется стробируемый режим управления, и его мертвое время по умолчанию равно длине одного периода импульса, поэтому мертвое время — минимально. При необходимости настройку мертвого времени можно увеличить.

[2] Например, средняя мощность оптического импульса 1550 нм на частоте 1 МГц с ц = 0,1 составляет -108,92 дБм.

[3] Если эффективность обнаружения одиночных фотонов SPDE=10%, скорость счета оптического импульса частотой 1 МГц с μ=0,1 составляет 10 кГц.

The post TCSPC система для тестирования SPAD детекторов SIMSCOP first appeared on Крио: Фотоника.

Конфокальный микроскоп с вращающимся диском SIMSCOP SpinDisk

valentin — Fri, 29 Dec 2023 10:36:57 +0000

SIMSCOP SpinDisk Basic — Базовая модификация

SpinDisk Basic — самое доступное решение для плавной конфокальной визуализации, позволяющее увеличить производительность лаборатории, не снижая качества.

Микроскоп SpinDisk Basic объединяет в себе гибкость и высокую эффективность, предлагая покупателю свободный выбор геометрии поворотного стола, наиболее пригодной для сферы деятельности (глубинная визуализация, быстрая визуализация в реальном времени).

Совместимость с любым вертикальным или инвертированным микроскопом с портом для камеры.
Благодаря идеальному размеру визира и высокой светопропускной способности SpinDisk Basic можно применять в сочетании со светодиодными и лазерными источниками света.
Специально спроектированные линзы оптимизированы для работы в широком диапазоне длин волн от УФ до ближнего ИК-диапазона и позволяют использовать большое разнообразие флуорофоров.

SpinDisk Basic позволяет регулярно проводить сложные длительные эксперименты с визуализацией живых клеток. Самая высокая скорость вращения диска на рынке позволяет наблюдать за сверхбыстрыми клетками.

Метод многолучевого вращения обеспечивает не только высокую скорость визуализации, но и значительно снижает фотообесцвечивание и фототоксичность. Благодаря мягкому освещению в сочетании с усовершенствованным оптическим секционированием, микроскоп SpinDisk Basic становится настоящим стандартом трехмерной визуализации живых клеток.

Компания SIMSCOP также предлагает пьезо-столики для XY-микроскопов, обеспечивающие моторизованное позиционирование образцов для микроскопии по осям XY.

SIMSCOP SpinDisk Advance — Улучшенная модификация

SpinDisk Advance представляет собой новое поколение микроскопов с вращающимся диском. Этот прибор основан на передовых технологиях, оптических конструкциях и инженерных решениях, разработанных для удовлетворения самых высоких требований современных приложений флуоресцентной микроскопии.

Усиленная чувствительность и качество изображения

Оптимизированная геометрия диска вместе со специально разработанной оптической схемой обеспечивают контрастность и четкость изображения, повышая яркость изображений тусклых образцов.

Быстрое секционирование, увеличенная скорость

Способность отображать поле обзора до 25 мм при максимальном вращении диска делает SpinDisk Advance самым быстрым конфокальным микроскопом на рынке.

Двойная камера, широкое поле обзора

Также SpinDisk Advance — первое конфокальное устройство, позволяющее получать полное поле обзора с двух камер при однородном освещении.

Модульная конструкция

Микроскоп SpinDisk Advance спроектирован так, чтобы сочетать производительность с гибкостью модульной расширяемой системы. Для этого в SpinDisk Advance имеется три режима использования:

Слева: Широкопольный — Моторизованный диск IN/OUT обеспечивает плавный переход между широкопольным и конфокальным режимом без необходимости перенастройки.

Посередине: Конфокальный с вращающимся диском —

Благодаря технологии SpinDisk Advance каждый прямой или инвертированный микроскоп может расширить возможности конфокального оптического секционирования.

Справа: Сверх-разрешение — система совместима с надстройкой SIM SpinDisk, что обеспечивает плавный переход от конфокального изображения к сверхвысокому разрешению.

Преимущества

Самое широкое поле обзора на рынке

Благодаря широкому полю обзора (FOV), обеспечиваемому SpinDisk Advance, область анализа увеличивается почти в два раза, по сравнению с традиционными системами визуализации. Это даёт возможность получить больше данных с каждого изображения, тем самым уменьшая необходимое количество материала для покрытия больших образцов, что в свою очередь существенно ускоряет процесс исследования. Скорости также способствует возможность использования двойной камеры.

Равномерное освещение для количественного анализа данных

Однородное освещение по всему полю обзора — чрезвычайно важно для количественной визуализации. В основе прибора освещения SpinDisk Advance лежит технология микролинзирования, способная превращать мощный лазер из многомодового волокна в однородный коллимированный луч с однородностью освещения в более 90 % по всему 25 мм полю обзора. Эта уникальная функция позволяет повысить качество и скорость обработки данных, без артефактов и с получением чёткой информации даже от периферийной части поля зрения.

Бесшовные изображения крупных образцов

В сочетании с 25 мм полем обзора, микролинзы способны составлять цельные изображения больших образцов тканей, органоидов и целых организмов.

Это даёт возможность:

Получать надёжные данные без артефактов и необходимости последующей коррекции
Снизить фотообесцвечивание и увеличить скорость за счёт минимизации взаимного перекрытия фрагментов
Увеличить скорость передачи данных, сохраняя их высокое качество

Характеристики

Параметры	SpinDisk Series — Basic	SpinDisk Series — Advance
Режимы визуализации	Широкопольный / Конфокальный / Флуоресцентный	Широкопольный / Конфокальный / Сверх-разрешение (при совмещении с SIM Basic)
Совместимые микроскопы	Все прямые и инвертированные микроскопы	Все прямые и инвертированные микроскопы
Поле обзора	Диаметр — до 25 мм Планапохроматические объективы 4x — 2.7 x 2.7 мм Планапохроматические объективы 10x – 1.20 x 1.20 мм Планапохроматические объективы 20x — 0.67 x 0.67 мм Планапохроматические объективы 40x — 0.33 x 0.33 мм Планапохроматические объективы 60x — 220 x 220 мкм Планапохроматические объективы 100x — 130 x 130 мкм
Лазер	Мультимодовый лазер: 1.5 мм SMA \| Диод: 3 мм LLG Срок службы диода >20 000 ч Точность регулировки мощности 1%	Мультимодовые лазеры с разъёмом SMA
Диапазон спектра	Возбуждение 365 -750 нм / Излучение 400 — 850 нм / Возбуждение 400 — 1000 нм	Возбуждение 400-750 нм / Излучение 400-850 нм
Камера	Камера sCMOS, совместимая с камерой CCD/EMCCD	Камера sCMOS, совместимая с камерой CCD/EMCCD Поддержка двухканальной визуализации
Параметры камеры	Пиковая квантовая эффективность 95% при 600 нм； Размер пикселей 6.5 x 6.5 мкм；разрешение 2048 x 2048；Эффективная площадь 13.3 x 13.3 мм； Шум: 0.2e-；Фотоэлектронная ёмкость: 45ke-; Совместимость с воздушным и водяным охлаждением
Скорость диска	15000 об\мин	15000 об\мин
Скорость сканирования	100 — 1000 кадр\сек	100 — 1000 кадр\сек
Геометрия вращающегося диска (Диаметр / Расстояние)	50/250 щель с высокой пропускной способностью для визуализации в реальном времени 50/250 мкм смотровые отверстия, оптимизированные для источников лазерного света 60/220 мкм смотровые отверстия, оптимизированные для диодных источников света Диски с индивидуальной геометрией и двумя каналами доступны по запросу.	Спирали с прорезями 50/250 для повышенной пропускной способности 50/250 мкм отверстия для стандартной визуализации 50/400 мкм расширяющие фокусное расстояние для углубления визуализации
Разрешение	Латеральное разрешение (FWHM): ~230 нм (High NA 1.4) Осевое разрешение (FWHM): ~600 нм (High NA 1.4)	Латеральное разрешение (FWHM): ~230 nm (High NA 1.4) Осевое разрешение (FWHM)：~600 нм (High NA 1.4)
Диски фильтров	8-позиционное колесо фильтра возбуждения; 5-позиционное колесо дихроичных фильтров; 8-позиционное колесо фильтра возбуждения; переключение между режимами вращающегося диска / и широкопольной моторизации	4-позиционное колесо фильтров очистки, 3-позиционное колесо дихроичных фильтров, 8-позиционное колесо эмиссионных фильтров, 3-позиционный слайдер для двойной камеры
Фильтрующий блок	DAPI EM 445/50 нм \| GFP/ FITC EM 530/50 нм DsRed / TRITC EM 605/60 нм \| Cy5 EM 695/40 нм
Окуляр	План-окуляр WF 10X/23, вынесенная точка фокусировки; центрирующая зрительная труба, наклон 45°, регулировка расстояния между окулярами — 50‒75 мм, регулируемый диоптрий
Конвертер объектива	Конвертер с пятью отверстиями внутреннего позиционирования; Шарикоподшипник для внутреннего позиционирования
Столик	Ручной: 240 × 260 мм фиксированный столик; Диапазон движения: 135 × 85 мм Моторизированный: Размер минимального шага: 50 нм; Шаг: X: 114 мм Y: 75 мм；Повторяемость：±0.1 мкм; Максимальная скорость: ≥100 мм/с；Размер столика: ≥270 x 170 мм Максимальная нагрузка＞1 Кг (горизонтально)
Драйвер по оси Z	Минимальный размер шага разрешения фокусировки: 0,05 мкм; Повторяемость ±0,2 мкм; Максимальный шаг: 10 мм
Механизм фокусировки	Коаксиальная грубая/точная регулировка с ограничительными и стопорными устройствами, Маховичок коаксиальной фокусировки низкого уровня; Градация маховика точной регулировки: 1 мкм.
Функции ПО	Многоцветная обработка локализации флуоресценции; обработка данных Z-стека; Сшивание крупного изображения; Анализ изображений; Управление данными визуализации; построение 3D-изображений
Рекомендуемые условия работы	Температура 23 ± 5˚C, Влажность 70% RH или ниже (без конденсации)	Температура 23 ± 5˚C, Влажность 70% RH или ниже (без конденсации)
Вес	11.0 Кг	26.0 Кг
Размер	286.7 (Ш) x 405.1 (Д) x 226.5 (В) мм	357.0 (Ш) x 606.0 (Д) x 225.0 (В) мм

The post Конфокальный микроскоп с вращающимся диском SIMSCOP SpinDisk first appeared on Крио: Фотоника.

Лазерный линейный сканирующий конфокальный микроскоп серии L

valentin — Tue, 26 Dec 2023 12:20:16 +0000

Описание

Лазерный линейный сканирующий конфокальный микроскоп серии L представляет собой мощный инструмент визуализации, сочетающий в себе принципы конфокальной микроскопии с возможностью исключительно быстрого получения ряда изображений вдоль линии. Этот инновационный метод микроскопии произвел настоящую революцию в изучении динамики биологических процессов и быстро происходящих процессов в материаловедении.

В отличие от традиционной конфокальной микроскопии, где изображения формируются попиксельно с помощью растрового сканирования, конфокальный микроскоп с линейным сканированием фиксирует целую полосу информации одновременно. Благодаря существенному сокращению времени сбора данных, такая методика идеально подходит для наблюдения за быстродвижущимися объектами, динамическими клеточными процессами и живыми биологическими образцами с минимальными артефактами от движения.

В основе принципа работы высокоскоростного конфокального микроскопа с линейным сканированием лежит способность сканировать образец полинейно, одновременно собирая излучаемую флуоресценцию или отраженный свет от этой же линии. Такой синхронизированный подход не только обеспечивает быстрое получение изображений, но также сводит к минимуму расфокусировку и повышает контрастность, аналогично традиционной конфокальной микроскопии.

Внедрение высокоскоростной конфокальной микроскопии с линейным сканированием открыло новые горизонты в научной работе, позволяя проводить исследования ранее недоступных для микроскопии быстрых биологических и небиологических процессов. Возможность получения детальных последовательных изображений с миниальным фотообесцвечиванием и фототоксичностью делает эту технику незаменимой для ученых и исследователей в широком спектре дисциплин.

Пьезо-столики для XY-микроскопов производства компании Simtrum, специально разработанные для микроскопов серии SIMSCOP, способны обеспечить точное моторизованное позиционирование образцов по оси XY.

Преимущества

Высокая скорость получения изображений (50 к\с, разр. — 1024×1000 пикс.)
Сильное оптическое секционирование
Одномолекулярная визуализация
Многоцветная флуоресценция (Макс. 4 канала)
Высокая чувствительность
Модуль глубокой визуализации (Макс. глубина: 600 мкм)
Широкое поле обзора (60X: 0.36 мм, 40X: 0.54 мм)
Низкое фотообесцвечивание и фототоксичность

Сферы применения

Промышленная серия L:

Стандартный одноволновой линейный детектор, предназначенный для простой визуализации сильной флуоресценции и визуализации отражения. Применяется в материаловедении, обнаружении флуоресценции составов и поверхностных дефектов.

Исследовательская серия L:

Четырехволновой высокочувствительный CMOS-детектор с обратной засветкой, предназначенный для визуализации слабой биологической флуоресценции. Применяется для исследования биологических клеток и патологических тканей. Модуль глубины можно использовать для визуализации плотных тканей in vivo и мелких животных. Серия ориентирована на крупные исследовательские проекты в биомедицинских исследовательских институтах и пользователей общедоступных инструментальных платформ, а также медицинские лабораторные испытательные учреждения.

Скоростное получение изображений (50 к\с, разр. 1024×1000 пикс.)

Благодаря различным методам сканирования скорость захвата при сополимеризации с линейным сканированием как минимум в 100 раз выше, чем при использовании стандартной конфокальной технологии, при этом фототоксичная реакция и реакция фотообесцвечивания — относительно низки. Это не только оптимально для визуализации живых клеток и тканей, но и вполне подходит для фиксации быстрого забора образцов даже у мелких живых животных.

Большое поле обзора и высокая чувствительность

Данные CMOS-камеры исследовательского класса с обширным эффективным полем обзора оснащены сенсором с разрешением до 5,5 мегапикселя и объективом с 60-кратным увеличением (0,36 мм) и 40-кратным увеличением (0,54 мм) для максимального обзора. Максимизация поля обзора флуоресцентной микроскопии становится все более важной в широком спектре приложений, включая сканирование больших площадей клеток, визуализацию развивающихся эмбрионов, картирование нейронов и визуализацию тканей.

Модуль глубокой визуализации (Макс. глубина: 600 мкм)

Модуляция фокуса линейного сканирования — это новый метод микроскопического наблюдения, который обеспечивает большую глубину проникновения на основе конфокальной микроскопии. Используя комбинацию электрооптического модулятора и жидкокристаллической фазовой пластинки разработанной в компании Simtrum, модулируется только интенсивность флуоресценции сигнала в фокусе, а рассеянный и фоновый свет — нет. Благодаря принципу технологии модуляции и демодуляции извлекается сильный сигнал фокальной области, тем самым улучшается соотношение сигнал-шум и сигнал-фон изображения на 20-30 дБ, что в свою очередь улучшает глубину изображения. Такая глубина проникновения примерно в два-четыре раза больше, чем при использовании традиционной конфокальной микроскопии.

Система контроля дефектов пластин способна обнаружить физические дефекты (посторонние вещества, называемые частицами) и дефекты рисунка на пластинах, а также получает координаты положения дефектов по оси X-Y.

Применение конфокальной техники линейного сканирования позволяет ускорить время осмотра более чем в 10 раз.

Референтная таблица скорости обнаружения

Датчик	Высокоскоростная ПЗС-матрица		Высокоскоростная sCMOS
Пикселей на строку	4096 x 256		9072 x 256
Пикселей на строку (по горизонтали)	4096		9072
Ширена пикселя (мм)	0.0050		0.0050
Скорость сканирования камеры с линейной решеткой (Линий/сек.)	200000		510000
Увеличение (Сухая линза)	20X	60X	20X	60X
NA	0.50	0.90	0.50	0.90
Разрешение визуализации (нм): 0.61 λ/NA	494 нм	274 нм	494 нм	274 нм
Время сканирования (сек): Площадь выборки / площадь сканирования в сек.	397.3	2136.6	72.0	379.9
Время осмотра одной пластины	6 м 37 с	35 м 36 с	1 м 12 с	6 м 20 с
Со стандартными сериями микроскопов	Время обнаружения с 60X линзами объектива 1 — 1.5 ч

Подробные характеристики

Параметры	Промышленная серия L	Исследовательская серия L
Лазерный источник света	Стандартная длина волны: 405±5 нм Выходной режим: одномодовое волокно с сохранением поляризации (TEM00) Выходная мощность на одной длине волны: >20 мВт; Стабильность мощности: <1% Ширина спектральной линии: <3 нм ТТЛ-модуляция, 1 кГц Точность регулировки мощности лазера: 1% Дополнительные длины волн: 375/445/473/515/525/532/ 633/660/685/785/808 нм	Стандартная длина волны: 405±5 нм / 488±5 нм /561±1 нм / 640±5 нм Выходной режим: одномодовое волокно с сохранением поляризации (TEM00) Выходная мощность на одной длине волны: >20 мВт; Стабильность мощности: <1% Ширина спектральной линии: <3 нм ТТЛ-модуляция, 1 кГц Точность регулировки мощности лазера: 1%, многоволновая регулировка мощности AOTF Дополнительные длины волн: 375/445/473/515/525/532/633/660/ 685/785/808 нм
Датчики	Камера линейного сканирования TDI; Разрешение: 4095×256; Длина волны: 380nm-1000nm; Ширина пикселя в битах: 8/10/12 бит, Пиковая квантовая эффективность (QE): 85% при 480 нм; Шум при считывании: 16e- Частота кадров: 200 кГц	CMOS с задней подсветкой; Разрешение: 9072×256; Длина волны: 200-1100 нм; Ширина пикселя в битах: 8/10/12 бит; Пиковая квантовая эффективность (QE): 82% при 550 нм; 50% при 350 нм, Шум при считывании: 3.5e- Частота кадров: 12бит: 300 кГц； 10 бит; 350 кГц; 8,bn; 510 кГц.
Модуль сканирования	Пиксели сканирования 100×100-2048×2048 Частота кадров: 20 к\с (1024×1000 пикселей), 200 к\с (1024×100 пикселей) режим быстрого сканирования	Пиксели сканирования 100×100-2048×2048 Частота кадров: 50 к\с (1024×1000 пикселей) 500 к\с (1024×100 пикселей) режим быстрого сканирования
Разрешение XY	Стандартный модуль сканирования: 230 нм при 100x масляном объективе	Стандартный модуль сканирования: 230 нм при 100x масляном объективе Модуль глубокого сканирования: 150-200 нм
Глубина визуализации	Поверхностное сканирование	Стандартный модуль сканирования < 100 мкм Модуль глубокого сканирования < 600 мкм
Площадь обзора	5x: 1 мм x 1 мм \| 10x: 0.51 мм x 0.51 мм \| 20x: 0.26 мм x 0.26 мм 40x: 0.13 мм x 0.13 мм \| 60x: 85 мкм x 85 мкм \| 100x: 51 мкм x 51 мкм
Фильтрующий блок	1 из комплектаций: DAPI EM 445/50 нм FITC EM 530/50 нм TRITC EM 605/60 нм Cy5 EM 695/40 нм	4 комплектации: DAPI EM 445/50 нм FITC EM 530/50 нм TRITC EM 605/60 нм Cy5 EM 695/40 нм
Окуляр	WF10X/23 широкоугольный окуляр; Вынесенная точка фокусировки; Центрирующий телескоп
Окулярная трубка	наклон 45°, регулируемое расстояние между окулярами — 50–75 мм; Регулируемая диоптрия
Конвертер объектива	Конвертер с пятью отверстиями внутреннего позиционирования; Полушарнир для внутреннего позиционирования
Столик	Ручной: 240 x 260 мм фиксированный; Дистанция движения: 135 x 85 мм Моторизированный: размер мин. шага: 50 нм; Повторяемость +/- 0.1 мкм Макс. скорость：≥100 мм/с; Размер столика: ≥270×170 мм Шаг : X:110 мм,Y:75 мм; Максимальная нагрузка >1 Кг (по горизонтали)
Z-драйвер	Разрешение фокусировки/мин. шаг: 0.05 мкм; Повторяемость: +/-0.2 мкм; Максимальный шаг: 10 мм
Механизм фокусировки	Грубая/тонкая коаксиальная настройка с ограничителями и запорными механизмами, Маховик коаксиальной регулировки низкого уровня; Точность регулировки маховика: 1 мкм
Система проходящего освещения	Тёплый светодиод, плавная регулировка яркости Регулятор яркости с вращением светодиодаКонденсатор: 72 мм, сверхдлинное рабочее расстояние, NA=0.30, Оснащен кольцевой фазово-контрастной пластиной с тремя отверстиями.
Система эпифлуоресцентного освещения	Многодиапазонный светодиодный источник света МГ-100 Модуль флуоресценции на 6 отверстий УФ(U)EX: 375/30 нм；DM:415；EM: 460/50 нм Синий(B)EX: 475/30 нм；DM:505；EM: 530/40 нм Жёлтый(Y)EX: 540/25 нм；DM:565；EM: 605/55 нм Красный(R)EX: 620/50 нм；DM:655；EM: 692/45 нм
Функции ПО	Многоцветная обработка локализации флуоресценции; обработка данных Z-стека; Сшивка большого изображения Анализ изображений; Управление данными визуализации; построение 3D-изображений

The post Лазерный линейный сканирующий конфокальный микроскоп серии L first appeared on Крио: Фотоника.

Флуоресцентный / Фотолюминесцентный микроскоп (Система)

valentin — Fri, 27 Oct 2023 11:00:27 +0000

Описание

Прибор серии MIC-PL(XXX) представляет собой измерительную систему флуоресцентной спектроскопии лазерного возбуждения на микро-уровне. «XXX» обозначает длину волны. Качество визуализации сопоставимо со стандартными микроскопами.

Система имеет конфокальный оптический путь. Фокусная плоскость образования изображения в микроскопе и плоскость сбора данных спектрометра – идеально совпадают. Точка минимального фокусирования лазера может быть менее 1 мкм. Система также оборудована высокоточным моторизированным столиком. Столик обладает точностью повторения в ≤ 1 мкм, и позволяет проводить точное спектральное сканирование. Систему можно модифицировать под рамановские и фотолюминесцентные измерения.

Преимущества

Многофункциональность

○ Фотолюминесцентные измерения

○ Флуоресцентная спектроскопия

○ Рамановская спектроскопия

Оптическая система

○ Отражательный тёмнопольный и светлопольный осветитель Olympus BX53,

○ Система комбинирования и разделения лучей (доступен слот для фильтра и поляризатора)

○ Опция линз объектива (10x, 50x, 100x и т.д. в зависимости от требований клиента)

○ Конфокальная схема, точка фокусировки лазера и визуализации – на одном уровне

Блок обнаружения (под заказ)

○ Охлаждаемый комплекс Hamamatsu с задней подсветкой. Охлаждение с помощью электрического преобразователя позволяет достигать температур до -15°C, что увеличивает чувствительность прибора в условиях низкого освещения

○ ПЗС-матрица, улучшающая чувствительность и отношение сигнал-шум (>1000:1)

○ Спектрометр с диапазоном от визуальной до ближней ИК области (имеется гнездо для фильтра и поляризатора), широкий выбор спектрометров: Spectrometer selection guide

Дополнительно настраиваемые функции

○ Спаренный источник света для свободного освещения, либо спаренное световолокно (доступны источники света на выбор Light source selection guide)

○ Поддержка оптического доступа с тремя и более лазерами (Рекомендованные лазеры на выбор: Recommended Laser choice)

○ Система совместима с УФ диапазоном и ближним ИК

○ Опциональное тёмнопольное, светлопольное / флуоресцентное / поляризованное освещение

○ Специальный порт для фильтров по запросу пользователя

○ 2D или 3D сканирование

Характеристики


Функция	Фотолюминесцентная / флуоресцентная / микрорамановская, и т.д.
Длина волны лазера	Опционально (355, 523, 633, 785, 1064 нм, и т.п.)
Детектор	Охлаждаемый комплекс Hamamatsu с задней подсветкой. Температура -15 °C 6M Камера ,3072×2048, размер пикселя 2.4 мкм
Размер пятна	До дифракционного предела (1 мкм при 50x линзах объектива при 532 нм)
Метод сканирования	Динамическое 3D или 2D сканирование (опционально)
Гнездо под вкладыш светового профиля	Есть
ПО	Стандартное ПО для сбора данных спектра и кастомизация в соответствии с нуждами пользователя
Возможность кастомизации	Есть
Прочее	Магнетизм, электричество, высокие\низкие температуры и т.д.

Примеры различных исполнений

Четырёхканальное исполнение с диапазоном от визуальной до ближней ИК области, Камера с высоким разрешением и многоволновым возбуждающим лазером.

Одноканальная модель 532 нм возбуждающий лазер для рамановской микроскопии.

Внешний вид установленной системы

A Модуль сбора спектральных данных

B Модуль визуализации \ спектроскопии

C Модуль лазера

D Отражающий осветитель и переключатель объектива

E Моторизированный столик и держатель образца

F Контроллер энергии лазера

G Спектрометр

H Мраморная платформа

I Камера

J Диодный источник лазера

K Управление столиком

Интерфейс ПО

A Основной интерфейс – управление аппаратными средствами.

B Интерфейс камеры – для регулировки экспозиции камеры, цвета, получения изображения и т.д.

C Интерфейс получения спектральных данных и наблюдения – для наблюдения и анализа спектра.

D Интерфейс управления движением– управляет перемещением столика

E Экран выбора линз и спектра – Выбор спектрометра

The post Флуоресцентный / Фотолюминесцентный микроскоп (Система) first appeared on Крио: Фотоника.

Столик с температурным контролем для рентгеновской дифрактометрии

valentin — Fri, 15 Sep 2023 15:22:26 +0000

Общая информация

Столик с температурным контролем для рентгеновской дифрактометрии представляет собой устройство для изучения дифракции рентгеновских лучей на образце при переменной температуре. Температурный диапазон образца — от -190 до 600 °C и от комнатной температуры до 1200°C в вакууме \ инертном газе \ на воздухе. Также устройство поддерживает переоснащение под различные существующие рентгеновские дифрактометры (Bruker, Thermo Fisher, Rigaku, и т.п.).

Преимущества

Компактная конструкция, пригодная для проведения рентгеновской дифрактометрии непосредственно на рабочем месте
Газостойкая конструкция камеры (с защитным газом)
Модифицируемая вакуумная камеры (10^-3 мбар)
Угол дифракции от 0 до 164° (стандартный держатель образца)
Столик для образцов 23 x 23 мм, серебро
Столик для ручного смещения по оси Z
Управляющее ПО для верхнего компьютера

Температурный столик для рентгеновской дифрактометрии

Сменная крышка для столика — также применяется как оптический температурный столик

Характеристики

Оптические индикаторы	Cryo 600-190-X	HT1200-X
Контроль температуры
Нагрев и охлаждение	Охлаждение жидким азотом / резистивный нагрев	Резистивный нагрев
Диапазон контроля температуры*	От -190 до 600℃	От комнатной температуры 1200℃
Стабильность температуры*	±0.2 °C (＜ -170 °C) / ±0.1°C (＜ 600°C ) / ±1°C (＞ 600°C )
Разрешение температуры	0.1 ℃
Скорость контроля температуры	0~50℃/ мин (фиксированная точка, либо управление температурой с помощью сегмента программы)
Метод контроля температуры	PID
Датчик температуры	PT100	Термопара
Оптические свойства
Оптический путь*	Отражённый (возможен монтаж светопроводящего отверстия)
Рентгенопроводящая плёнка	Каптоновая мембрана
Конструктивные свойства
Размер столика для образца*	23×23 мм	12×12 мм
Материал носителя образца*	Серебро	Керамика
Размеры*	100×100×73 мм
Камера*	Вакуумная
Давление в камере	Механический насос 10^-3 Торр, Турбонасос 10^-6Торр
Охлаждение кожуха	Рециркуляционная вода
Примечание	Все параметры, отмеченные * выше – можно модифицировать по заказу пользователя

Выбор диапазона температуры

Низкотемпературный столик: От -190 до 600℃

Низкотемпературная опция -190℃ ☐ -180℃ ☐ -160℃ ☐ -120℃ ☐ -100℃ ☐ Комнатная температура

Высокотемпературная опция ☐ 400℃ ☐ 600℃

Высокотемпературный столик: От комнатной температуры 1200 ℃

Высокотемпературная опция: Комнатная температура ☐ 400℃ ☐ 600℃ ☐ 800℃ ☐ 1200℃

Области применения

Рентгеновская дифрактометрия титановых сплавов при переменной температуре

Рентгеновская дифрактометрия фазового перехода при переменной температуре

Температурный столик для рентгеновской дифрактометрии

Температурный столик для рентгеновской дифрактометрии и устройство рентгенографирования Thermo Fisher

The post Столик с температурным контролем для рентгеновской дифрактометрии first appeared on Крио: Фотоника.

Температурный столик для контроля деформации растяжения

valentin — Fri, 15 Sep 2023 13:13:38 +0000

Общая информация

Столик WT-500 представляет собой устройство, позволяющее проводить при контролируемой температуре нагрузочные испытания и исследования деформации растяжения материалов с помощью микротестовой DIC системы. Столик идеально подходит для исследования поведения материалов в переходной фазе, исследования возникновения и развития трещин, изломов, изгибаний и т.п. при высоких температурах. WT-500 подходит для изучения полупроводниковых, керамических, полимерных, и биологических материалов, а так же для гибкой электроники. Прибор находит применение и в других отраслях исследований.

Преимущества

Динамическое измерение нагрузок
Измерение скоростных деформаций
Механика разрушений
Динамические испытания материалов

Система тестирования сопротивления к разрыву при нагреве и охлаждении

Система электротестиорвания

Прибор для испытания на растяжение

Результат микротеста на растяжение

Характеристики

Общие характеристики
Оптические индикаторы	Типичное значение	Комментарии
Продукт/Модель	WT-500
Диапазон нагрузок	0-500 Н, 0.02% полного диапазона
Направление	Горизонтальное движение
Максимальное смещение	40 мм
Скорость смещения	1-500 мкм/с	Опционально
Механическая модель	Растяжение, сжатие, сгибание
Методика нагревания и охлаждения	Охлаждение жидким азотом, нагревание нитью накаливания, полупроводниковое нагревание и охлаждение
Верхняя граница температурного контроля	A.100℃ B. 200℃ C. 400℃ D.600℃	Опционально
Нижняя граница температурного контроля	A.-100℃ B.-120℃ C.-150℃ D.-190℃（опция）	Опционально
Точный температурный контроль	±0.1℃（>-120℃），±0.3℃（<-160℃），разрешение 0.1℃
Скорость контроля температуры	0~10℃ / мин
Тип контроля температуры	Режим контроля температуры ：PID；Датчик температуры ：PT100；Материал загрузчика образца: серебро
Световой путь	Отражённый свет	Доступен пропускающий путь
Окна	Съёмное заменяемое окно	Различные материалы для различных длин волн
Оконное покрытие	Ø 25 мм
Светопропускающее отверстие	Отсутствует	Доступно
Рабочее расстояние линз	12 мм
Защита окон от обледенения	Продувка и размораживание при отрицательной температуре
Выбор способа наблюдения	Микроскоп, анализ и тестирование ДИК изображений
ПО с функцией анализа ДИК	Поддержка анализа синхронизации, температуры, микроструктуры образца, исследование деформаций, расчет динамических деформаций, обнаружение нелинейных изменений и силы, модуля Юнга и соотношения позиций, механика упруго-пластического разрушения, особенности деформации однородного и неоднородного материала в процессе анализа, характеристика деформации всех видов изотропных и анизотропных материалов
Точность ДИК теста	Поддержка высокоскоростной и низкоскоростной камеры, возможность достижения точности на уровне микрона и нанометра	Опционально
Расчет в реальном времени	Онлайн и оффлайн вычисление, и режимы обработки
Совместимость с системой ДИК	Совместимо с однокамерным двухмерным и многокамерным трёхмерным измерением; Совместимость с 32-х и 64-х битными системами.
Малый размер столика для образцов	35 x 8 мм	Модифицируемо
Контроль атмосферы	Герметичная камера, возможно заполнение защитной атмосферой
Охлаждение корпуса	Отсутствует по умолчанию, возможно использование жидкостного цикла для предотвращение перегрева	Возможна вертикальная установка

Сопутствующая продукция

	Температурный диапазон	Тип камеры	Оптический канал	Электрический штатив зонда
Оптический столик нагревания и охлаждения	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Нет
Температурный столик с электрическим зондом	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Фиксированный штатив
Температурная станция с электрическим зондом	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Регулируемый штатив

The post Температурный столик для контроля деформации растяжения first appeared on Крио: Фотоника.

Оптический крио- и высокотемпературный столик для микроскопа

valentin — Thu, 14 Sep 2023 13:43:52 +0000

Общая информация

Столик с контролем температуры — важное оборудование для научных исследований, применяемое в таких отраслях, как материаловедение, геология, пищевая промышленность и медицина. Столик можно комбинировать с оптическими, рамановскими, флуоресцентными микроскопами, и прочими приборами, для решения задач, требующих быстрого нагревания или охлаждения образца при наблюдении его структурных и морфологических изменений. Такие наблюдения помогают изучить физические и химические свойства образца.

Система контроля температуры

Потребление жидкого азота

1) Максимальное потребление жидкого азота – 1Л/ч, поддерживается t -190 ℃;

2) Потребление в норме — 0.5 Л/ч, вариации повышенной и пониженной температуры

Преимущества

Точность контроля температуры: ±0.1 ℃
Поддержка светопропускающего\отражательного режима
Компактная конструкция, пригодная для разнообразных температурных испытаний
Широкий диапазон температур: от -190 до 600℃ / От комнатной до 1200℃
Газостойкая конструкция камеры, возможна циркуляция защитного газа
Модифицируемая вакуумная камера, 10^-5 мбар
Возможна смена оптических окон для обора разных материалов
Возможен выбор из различных оптических интерфейсов
Управляющее ПО для ПК поддерживает модификации и исполнение по индивидуальному заказу

Газостойкий оптический столик с контролем температуры

Возможно проведение защитного газа

Вакуумный оптический столик с контролем температуры

Механическая откачка — до 10^-3 мбар

Молекулярная откачка — до 10^-5 мбар

Характеристики

Оптические индикаторы	Cryo 600-190	HT1200
Контроль температуры
Нагрев и охлаждение	Резистивный нагрев \ Охлаждение жидким азотом	Резистивный нагрев
Диапазон контроля температуры*	От -190 до 600℃	От комнатной температуры 1200℃
Стабильность температуры*	±0.1℃ (＜ 600℃ ), ±1℃ (＞ 600℃ )
Разрешение температуры	0.1 ℃
Скорость контроля температуры	0~50℃/ мин (фиксированная точка, либо управление температурой с помощью сегмента программы)
Метод контроля температуры	PID
Датчик температуры	PT100	Термопара
Оптические свойства
Оптический путь*	Отражённый (возможен монтаж светопроводящего отверстия)
Материал окна*	Кварцевое стекло
Размер окна*	⌀ 25 мм
Рабочее расстояние линз*	6 мм
Светопроводящее отверстие*	По умолчанию отсутствует (возможна установка)
Защита окна от обледенения	Размораживание обдувкой при минусовых температурах	/
Конструктивные свойства
Размер столика для образца*	23×23 мм
Материал носителя образца*	Серебро	Керамика
Размеры*	100×100×25 мм
Высота полости для образца *	4 мм
Камера*	Газонепроницаемая (возможен апгрейд до вакуумной)
Давление в камере	Механический насос 10^-3 торр, Турбонасос 10^-6 торр
Охлаждение кожуха	Рециркуляционная вода
Примечание	Все параметры, отмеченные * выше – можно модифицировать по заказу пользователя

Схемы

Режимы светопередачи

Отражательный режим

Столик

Режим светопропускания

Выбор диапазона температуры

Низкотемпературный столик от -190 до 600 С, также доступна опция для низких температур -190 С

Точность контроля температуры

Температурная стабильность

Нагревание с фиксированным нарастанием

Программируемая рампа (нагревание и охлаждение)

Стабильность контроля температуры: Макс +\- 0.1 С

Скорость нагрева и охлаждения 0-30 С\мин (рекомендовано), макс — 60 С\мин

Материал светопроводящего окна

1) Материал столика для образцов: серебро (для средних и низких температур), керамика (для высоких температур)

2) Размер столика: 23×23 мм (возможно специальное исполнение по заказу клиента)

3) Светопроводящее отверстие: 2 мм (возможно специальное исполнение по заказу клиента)

4) Материал окна: оптическое стекло, сапфир, фторид кальция, и т.п.

5) Размер окна: φ 25 мм (возможно специальное исполнение по заказу клиента)

Оптический интерфейс по индивидуальному заказу

Защита от обмерзания образца и окна

Метод защиты образца от обмерзания

a. Поток защитного газа, b. вакуум

Защита окон от обледенения

Очистка окна азотом.

Система жидкостного охлаждения

Система жидкостной циркуляции

(температурный контроль)

Система жидкостной циркуляции необходима для условий сверх-низкой и сверх-высокой температуры. Система подсоединяется к температурной камере столика

При поддержании низкотемпературных условий, до -190 ℃, система предотвращает конденсацию жидкости на столике и камере
При поддержании высокотемпературных условий она охлаждает стенки камеры до комнатной температуры

Сопутствующая продукция

	Температурный диапазон	Тип камеры	Оптический канал	Электрический штатив зонда
Оптический столик нагревания и охлаждения	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Нет
Столик с температурным контролем для рентгеновской дифрактометрии	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Фиксированный штатив
Температурный столик с электрическим зондом	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Фиксированный штатив
Температурная станция с электрическим зондом	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Регулируемый штатив
Температурный столик для исследования деформации растяжения	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Нет (возможна модификация)

The post Оптический крио- и высокотемпературный столик для микроскопа first appeared on Крио: Фотоника.

Температурная станция с электрическими зондами

valentin — Wed, 13 Sep 2023 14:35:23 +0000

Общая информация

Температурная станция с электрическими зондами специально разработана для характеризации температурной зависимости электрических свойств при фазах нагревания и охлаждения материалов.

Прибор спроектирован на основе оптического температурного столика, с установкой электрического модуля. Перемещая иглу во время тестирования, можно обеспечить контакт с любой областью поверхности образца. Электрический сигнал от образца передаётся на приборы, через контакты, подключённые к держателю иглы, на этих приборах проводится анализ электрических свойств материала при переменной температуре.

Станция электрических зондов с ручным регулированием

Моторизированный столик с нано-зондом

Преимущества

Диапазон температур: От -190 до 600℃, точность контроля температуры — ±0.1℃
Герметичная камера, с возможностью проведения защитного газа
Модифицируемая вакуумная камера (10^-3 мбар)
Пошаговое изменение температуры, 0-60 ℃/мин
Поддержка многозондового тестирования (до 8)
Модифицируемый триаксиальный кабель Triax
Поддержка модификаций по заказу

Система контроля температуры

Тип камеры

Герметичная камера с возможностью проведения защитного газа

Вакуумная камера с откачкой до 10^-3 мбар

Режимы светопередачи

Отражательный режим

Столик

Режим светопропускания (2 мм отверстие)

Типы зондов

Фиксированная игла зонда

Магнитная игла зонда

Моторизированный нано-зонд

Модифицированный оптический интерфейс

Модифицируемая камера

Потребление жидкого азота

1) Максимальное потребление жидкого азота – 1 Л/ч, поддерживается t -190 ℃ ;

2) Стандартное потребление — 0.5 Л/с, вариации повышенной и пониженной температуры.

Система жидкостного охлаждения

При поддержании низкотемпературных условий, до -190 ℃, система предотвращает конденсацию жидкости на столике и камере
При поддержании высокотемпературных условий она охлаждает стенки камеры до комнатной температуры

Система жидкостной циркуляции

(температурный контроль)

Характеристики станции электрических зондов с ручным регулированием


Оптические индикаторы	Станция электрических зондов с ручным регулированием
Контроль температуры
Нагрев и охлаждение	Охлаждение жидким азотом, нагревание нитью накала
Диапазон контроля температуры*	От -190 до 600℃
Стабильность контроля температуры	Стабильность ±0.1℃, разрешение 0.1 ℃
Скорость контроля температуры	Макс. 60℃/мин
Метод контроля температуры	Высокоточный PID контроль
Оптические свойства
Оптический путь*	Отражённый (возможен апгрейд до пропускающего)
Размер окна	⌀ 25 мм (с учётом реального размера)
Рабочее расстояние линз	16.5 мм
Защита окна от обледенения	Размораживание обдувкой при минусовых температурах
Электрические характеристики
Зонд*	Регулируемый зонд *4 (вольфрамистая сталь с золотым напылением)
Интерфейс зонда*	BNC (опциональный триаксиальный интерфейс)
Потенциал таблицы данных *	Работа в буферном режиме (опциональное заземление)
Конструктивные свойства
Материал носителя образца *	Медь (возможна установка серебряного носителя)
Размер столика для образца	23×23 мм (с учётом реального размера)
Размеры	15015055 мм (без регулировочного столика)
Высота полости для образца	15 мм (с учётом реального размера)
Давление в камере	Механический насос 10^-3 торр, Турбонасос 10^-6 торр
Шаг смещения по осям XYZ	±6 мм
Точность смещения зонда	5 мкм
Примечание	Все параметры, отмеченные * выше – можно модифицировать по заказу пользователя

Выбор диапазона температуры

Низкотемпературный столик: От -190 до 600℃

Низкотемпературная опция -190℃ ☐≤ -180℃ ☐≤ -160℃ ☐≤ -120℃ ☐≤ -100℃ ☐≤ ☐Комнатная температура

Высокотемпературная опция ☐≤ 400℃ ☐≤ 600℃

Характеристики Станции с моторизированной нано-иглой зонда

Оптические индикаторы	Моторизированная нано-игла зонда
Контроль температуры
Нагрев и охлаждение		Охлаждение жидким азотом, нагревание нитью накала
Диапазон контроля температуры*		От -190 до 600℃
Стабильность контроля температуры		Стабильность ±0.1℃, разрешение 0.1 ℃
Скорость контроля температуры		Макс. 60℃/мин
Метод контроля температуры		Высокоточный PID контроль
Оптические свойства
Оптический путь*		Отражённый (возможен апгрейд до пропускающего)
Размер окна		⌀ 25 мм (с учётом реального размера)
Рабочее расстояние линз		12.5 мм
Защита окна от обледенения		Размораживание обдувкой при минусовых температурах
Электрические характеристики
Зонд*		Зонд из вольфрамистой стали с золотым напылением *2 (возможен апгрейд до 4х)
Интерфейс зонда*		BNC (опциональный триаксиальный интерфейс)
Потенциал таблицы данных *		Работа в буферном режиме (опциональное заземление)
Конструктивные свойства
Материал носителя образца *		Серебро
Размер столика для образца		23×23 мм (с учётом реального размера)
Размеры		11017015 мм (без регулировочного столика)
Высота полости для образца		10.5 мм (с учётом реального размера)
Давление в камере		Механический насос 10^-3 торр, Турбонасос 10^-6 торр
Шаг смещения по осям XYZ		±6 мм
Точность смещения зонда		1 нм
Примечание		Все параметры, отмеченные * выше – можно модифицировать по заказу пользователя

Выбор диапазона температуры

Низкотемпературный столик: От -190 до 600℃

Низкотемпературная опция -190℃ ☐≤ -180℃ ☐≤ -160℃ ☐≤ -120℃ ☐≤ -100℃ ☐≤☐Комнатная температура

Высокотемпературная опция ☐≤ 400℃ ☐≤ 600℃

Сопутствующая продукция

	Температурный диапазон	Тип камеры	Оптический канал	Электрический штатив зонда
Оптический столик нагревания и охлаждения	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Нет
Столик с температурным контролем для рентгеновской дифрактометрии	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Фиксированный штатив
Температурный столик с электрическим зондом	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Фиксированный штатив
Температурная станция с электрическим зондом	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Регулируемый штатив
Температурный столик для исследования деформации растяжения	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Нет (возможна модификация)

The post Температурная станция с электрическими зондами first appeared on Крио: Фотоника.

Температурный столик с электрическими зондами

valentin — Tue, 12 Sep 2023 12:39:02 +0000

Общая информация

Температурный столик с электрическим зондом специально разработан для характеризации температурной зависимости электрических свойств при фазах нагревания и охлаждения материалов.

Фиксированная игла зонда

Магнитная игла микрозонда

Фиксированная игла зонда + Магнитная игла зонда

Преимущества

Диапазон температур: От -190 до 600℃, точность контроля температуры — ±0.1℃
Герметичная камера, с возможностью проведения защитного газа
Модифицируемая вакуумная камера (10^-3 мбар)
Пошаговое изменение температуры, 0-60 ℃/мин
Поддержка многозондового тестирования (до 8)
Модифицируемый триаксиальный кабель Triax
Поддержка модификаций по заказу

Система контроля температуры

Тип камеры

Герметичная камера с возможностью проведения защитного газа

Вакуумная камера с откачкой до 10^-3 мбар

Режимы светопередачи

Отражательный режим

Столик

Режим светопропускания (2 мм отверстие)

Типы зондов

Фиксированная игла зонда

Магнитная игла зонда

Модифицированный оптический интерфейс

Модифицируемая камера

Потребление жидкого азота

1) Максимальное потребление жидкого азота – 1 Л/ч, поддерживается t -190 ℃ ;

2) Стандартное потребление — 0.5 Л/с, вариации повышенной и пониженной температуры.

Система жидкостного охлаждения

Система жидкостной циркуляции необходима для условий сверх-низкой и сверх-высокой температуры. Система подсоединяется к температурной камере столика.

При поддержании низкотемпературных условий, до -190 ℃, система предотвращает конденсацию жидкости на столике и камере
При поддержании высокотемпературных условий она охлаждает стенки камеры до комнатной температуры

Система жидкостной циркуляции

(температурный контроль)

Характеристики

Оптические индикаторы	Фиксированная игла зонда / Магнитная игла зонда / Фиксированная игла зонда + Магнитная игла зонда
Контроль температуры
Нагрев и охлаждение	Охлаждение жидким азотом, резистивный нагрев
Диапазон контроля температуры*	От -190 до 600℃
Стабильность температуры*	±0.2 °C (＜ -170 °C), ±0.1°C (＜ 600°C )
Разрешение температуры	0.1 ℃
Скорость контроля температуры	0~50℃/ мин (фиксированная точка, либо управление температурой с помощью сегмента программы)
Метод контроля температуры	PID
Датчик температуры	PT100
Оптические свойства
Оптический путь*	Отражённый (возможен апгрейд до пропускающего)
Материал окна*	Кварцевое стекло
Размер окна*	⌀ 25 мм
Рабочее расстояние линз*	10 мм, 8 мм, или 5 мм
Светопроводящее отверстие*	По умолчанию отсутствует (возможен монтаж светопроводящего отверстия)
Защита окна от обледенения	Размораживание обдувкой при минусовых температурах
Электрические характеристики
Зонд	4 фиксированных иглы зонда или 4 магнитных иглы
Интерфейс зонда*	BNC x4
Потенциал таблицы данных*	Работа в буферном режиме (опциональное заземление)
Конструктивные свойства
Размер столика для образца*	23×23 мм
Материал носителя образца*	Серебро
Размеры*	160×150×30 мм
Высота полости для образца *	8.5 или 7.5 мм
Камера*	Газонепроницаемая (возможен апгрейд до вакуумной)
Давление в камере	Механический насос 10^-3 торр, Турбонасос 10^-6 торр
Охлаждение кожуха	Рециркуляционная вода
Примечание	Все параметры, отмеченные * выше – можно модифицировать по заказу пользователя

Выбор диапазона температуры

Низкотемпературный столик: От -190 до 600℃

Низкотемпературная опция -190℃ ☐≤ -180℃ ☐≤ -160℃ ☐≤ -120℃ ☐≤ -100℃ ☐≤☐Комнатная температура

Высокотемпературная опция ☐≤ 400℃ ☐≤ 600℃

Схема

Сопутствующая продукция

	Температурный диапазон	Тип камеры	Оптический канал	Электрический штатив зонда
Оптический столик нагревания и охлаждения	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Нет
Температурный столик с электрическим зондом	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Фиксированный штатив
Температурная станция с электрическим зондом	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Регулируемый штатив
Температурный столик для исследования деформации растяжения	От -190 до 1200°C	Воздухонепроницаемая или вакуумная	Пропускание или отражение	Нет (возможна модификация)

The post Температурный столик с электрическими зондами first appeared on Крио: Фотоника.

Raman S1/S2 — Рамановские конфокальные микроскопы широкого поля

valentin — Fri, 21 Jul 2023 10:01:51 +0000

Описание

Конфокальная рамановская микроскопия (CRM) объединяет техники рамановской спектроскопиии конфокальной микроскопии. Этот высокотехнологичный аналитический прибор позволяет получить рамановский спектр от образцов с помощью комбинационного рассеивания, при этом, благодаря конфокальной системе, сохраняя высокое пространственное разрешение изображений.

Серия рамановских микроскопов от SIMSCOP отличается удобной модульной конструкцией, имеющей множество разнообразных внешних интерфейсов. Благодаря установке различных модулей, система способна достичь полной многофункциональности и гибкости. Помимо получения рамановского спектра и качественных изображений, система также поддерживает получение трёхмерного конфокального изображения, благодаря конфокальному модулю от компании SIMSCOP. Дополнительно возможно подключение внешних источников лазерного излучения, спектрометров и различных столиков для образцов, в соответствии с требованиями экспериментов.

Ключевые преимущества

Прямое и инвертированное исполнение микроскопа для различных нужд.
Многоволновые лазеры: длины волн 405, 532, 638, 785, и 1064 нм.
Модульная конструкция: разъёмы для внешних лазеров и спектрометров, расширяемость.
Настраиваемые столики для образцов: для столиков растяжения, высокотемпературных и криостоликов, и вакуумных столиков.
Автоматические и ручные столики: высокая точность для различных конфигураций.
Поддержка несоосных оптических измерений: расширение измерительных опций и гибкости.

Высокая гибкость и множество режимов микроскопии

Поддержка широкопольной рамановский визуализации
Поддержка визуализации конфокальной рамановской микроскопии
Поддержка многоканальной широкопольной флуоресцентной микроскопии
Поддержка многоканальной фотолюминесцентной микроскопии

Сфера применения

Биология и медицина,
Материаловедение,
Графеновые и углеродные нанотрубки,
Наноматериалы,
Катализаторы,
Полупроводники,
Анализ технологического загрязнения,
Контроль качества в фармацевтике.

Функции ПО

1. ПО для получения конфокальных рамановских изображений

Поддержка управления в реальном времени и синхронизации аппаратных устройств: моторизированных столиков, лазеров, камер и спектрометров.
Гибкая настройка параметров рамановской спектроскопии: времени экспозиции, усреднения и диапазона длин волн, для различных экспериментальных нужд.

2. Функции конфокального 3D сканирования и рамановского картирования

Возможность регулирования пользователем диапазона сканирования и установки точек на плоскости XY для автоматического сканирования с помощью моторизировнных столиков.
Запись рамановских спектральных данных на каждой точке, поддержка выбора рамановских пиков для создания трёхмерных рамановских характеристик, что упрощает анализ и сравнение образцов.
Поддержка точечной, линейной и зональной 3D томографии, а также сшивки 3D изображений.
Интуитивный дисплей для отображения 3D видео и рамановского спектра, наглядно отображающий структурные и химические свойства образцов.

3. Профессиональное ПО для сбора и обработки данных рамановской спектроскопии

Все функции управления системой, сбора и обработки данных: сопоставление пиков комбинационного рассеяния, автоматическая коррекция фона флуоресценции, автоматическая настройка выдержки, усреднения, шумоподавления и фильтрации.
Поддержка расширенных функций анализа, таких как измерения полувысоты и интеграции сигнала, что обеспечивает комплексные решения для обработки данных.

4. Поддержка сторонних спектрометров

ПО поддерживает установку сторонних спетрометров, что упрощает модернизацию микроскопа.

Подробные характеристики

Модель	SIMSCOP-RAMAN-S1	SIMSCOP-RAMAN-S2
Лазер	Одноканальный: 532, 638, 785 нм (опционально) Мощность: 100 мВт, Ширина линии: 0.003 нм, Стабильность мощности: 1%	Многоканальный: до 5 каналов 405, 532, 638, 785, 1064 нм Мощность: 100 мВт, Ширина линии: 0.001 нм, Стабильность мощности: 1% Поддержка ближнего ИК спектра
Совместимые спектрометры	Оптоволоконные спектрометры / Сторонние спектрографы монохроматоры (Horiba, Andor, и т.д.)
Разрешение спектра	Оптоволоконные спектрометры: ≤4 см⁻¹ / Сторонние спектрографы монохроматоры: ≤1.23 см⁻¹
Диапазон спектра	50 – 15,000 см⁻¹ (настраиваемо)
Опции волоконного спектрометрического датчика	Опция 1: M Series — Hamamatsu S10420	Охлаждаемый сенсор с задней подсветкой 2048 x 64 пикселей
	Опция 2: MC Series — Hamamatsu S7031-1006S	Охлаждаемый сенсор CCD с задней подсветкой 1044 x 64 пикселей
	Опция 3: HiNA Series — E2V	Охлаждаемый -70°Cсенсор CCD с задней подсветкой 2000 x 264 пикселей. Темновой ток <0.001 e⁻/пикс./сек.
Широкопольная камера	CMOS камера с задней подсветкой 15 кадр/сек при 5440 x 3648; 50 кадр/сек при 2736 x 1824; 60 кадр/сек при 1824 x 1216
Конфокальный режим	Ручная регулировка апертуры	Бесступенчатая автоматическая регулировка апертуры
Разрешение конфокальных изображений	~200 нм при 100x объектива
Размер пятна	~1 мкм при 50x
Столик для образца	XY электрический (ручная опция), Z ручной (с возможностью модернизации до электрического), Повторяемость позиционирования: ±0.25 мкм	XYZ электрический, Повторяемость позиционирования: ±0.25 мкм
Дистанция перемещения	XY: 50*50 мм, Z: 150 мм (возможна настройка)
Максимальная нагрузка	10 Кг
Совместимость со столиками для образца	Система совместима со стандартными столиками растяжения, высокотемпературными и криостоликами, и вакуумными столиками
Совместимость с микроскопами	Совместимость с прямыми и инвертированными микроскопами
Объективы (опционально)	10X Объектив для дальнего рабочего расстояния NA: ≥0.25; WD: ≥30 мм; Разрешение: ≤1 мкм 20X Объектив для дальнего рабочего расстояния NA: ≥0.40; WD: ≥20 мм; Разрешение: ≤0.80 мкм 50X Объектив для дальнего рабочего расстояния NA: ≥0.50; WD: ≥10 мм; Разрешение: ≤0.60 мкм
ПО	Стандартные функции	Расширенные функции 1. Автофокус по оси Z 2. Конфокальная адаптивная апертура 3. Визуализация 3D сканирования 4. Расширенный анализ данных спектроскопирования

Доступные модели

SIMSCOP Raman S1

Одноканальный лазер, длины волн: 532/638/785 нм (опционально), Мощность лазера: 100 мВт, Шаг развёртки: 0.003 нм, Типичный рамановский диапазон: 150~3200 см-1, Разрешение: ~200 нм с 100x объективом, ручная регулировка апертуры, размер одномодового пятна: ~1 мкм при 50x, Совместим с прямыми и инвертированными микроскопами, а также со стандартными развёртываемыми, высоко- / низкотемпературными и вакуумными столиками.

SIMSCOP Raman S2
Многоканальный лазер (до 5 каналов), длины волн: 405/532/638/785/1064 нм (опционально), Мощность лазера: 100 мВт, Шаг развёртки: 0.001 нм, Поддержка ближнего ИК спектра, Типичный рамановский диапазон: 150~3200 см-1, Разрешение: ~200 нм с 100x объективом, бесступенчатая автоматическая регулировка апертуры, размер многомодового пятна: ~1 мкм при 50x, Совместим с прямыми и инвертированными микроскопами, а также со стандартными развёртываемыми, высоко- / низкотемпературными и вакуумными столиками.

The post Raman S1/S2 — Рамановские конфокальные микроскопы широкого поля first appeared on Крио: Фотоника.