Лазерные сканирующие конфокальные микроскопы - Крио: Фотоника https://ph.cryotrade.ru Фотоника Tue, 23 Jan 2024 09:52:06 +0000 ru-RU hourly 1 https://wordpress.org/?v=5.8.13 Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп серии SIMSCOP P https://ph.cryotrade.ru/product/las-scan-confoc-mic/?utm_source=rss&utm_medium=rss&utm_campaign=las-scan-confoc-mic https://ph.cryotrade.ru/product/las-scan-confoc-mic/#respond Wed, 19 Jul 2023 20:56:45 +0000 https://ph.cryotrade.ru/?post_type=product&p=2593 Микроскоп серии SIMSCOP P
Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп, Стандартная длина волны -  405/488/561/640 нм (638 нм), двухосный XY высокоскоростной оптический сканирующий гальванометр, поле обзора 15 x 15 мм, пиксели сканирования 512 x 512  ~ 4096 x 4096, скорость сканирования - до 4 кадр/с, шаг: X-110 мм, Y-75 мм, Z-9 мм.

The post Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп серии SIMSCOP P first appeared on Крио: Фотоника.

]]> Описание

Конфокальная микроскопия представляет собой метод формирования изображения, позволяющий увеличить оптическое разрешение и контрастность микрофотографий с помощью диафрагмы, отсекающей фоновой рассеянный свет. Захват нескольких двухмерных изображений разной глубины позволяет создать трёхмерное изображение образца.

Данная технология широко применяется в разнообразных научных и промышленных сферах, от биологии и материаловедения, до испытания полупроводников, однако полноценные коммерческие системы конфокальной микроскопии, как правило, дорого стоят.

Компания SIMTRUM предоставляет надёжные системы для микроскопии по разумной цене. Системы серии SIMSCOP P отличаются функциональностью, экономичностью и гибкостью.

Ключевые преимущества

● Профессиональное ПО для анализа изображений с удобным пользовательским интерфейсом,

● Один или несколько лазерных каналов, точность управления мощностью лазера до 0.01%,

● Кремниевый ФЭУ датчик, расширяющий динамический диапазон фотонов и снижающий уровень шума,

● Поддержка скоростного сканирования: 30 кадр сек. на 512 x 512 пикселей (резонансный сканер),

● Компактная модульная конструкция, совместимая с большинством микроскопов,

● Множество вариантов апгрейда и возможностей для экономичного расширения,

Краткая характеристика

Стандартная длина волны:

405 / 488 / 561 / 640 нм (638 нм)

Опциональные длины волн:

УФ：375 нм

VIS：445 / 473 / 515 / 525 / 532 / 633 / 660 / 685 нм

БИК：785 / 808 нм

Модуль шестиканального лазера — опционален.

 

Высокочувствительный четырёхканальный лазер и система управления

● Четырёхканальный диодный лазер и управляющая печатная плата для высокоскоростного независимого регулирования каждого лазерного канала,

● Интенсивность регулировки лазера 0.01%.

● ТТЛ / Аналоговая модуляция

 

Кремниевый датчик ФЭУ снижающий шум и улучшающий контроль качества

Оборудование для конфокального микроскопа серии SIMSCOP CM с датчиком SiPM

● Низкое рабочее напряжение,

● Длительный срок службы,

● Широкий динамический диапазон,

● Нечувствительность к магнитному полю,

● Пригодно для скоростной визуализации с шумоподавлением

 

Кремниевый фотоумножитель (SiPM) представляет собой массив однофотонных лавинных фотодиодов на одной подложке с выходами на общий канал считывания. Каждый элемент работает как детектор фотонов по принципу «всё или ничего» и генерирует импульс стереотипной высоты с низкой вариабельностью. Вместе импульсы от всех элементов формируют выходной сигнал SiPM. Большое количество элементов в массиве (>1000) позволяет без насыщения одновременно обнаруживать множество фотонов и работать с большой активной областью.

Подробные характеристики

Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп серии SIMSCOP — P
Источник лазерного излучения Стандартная длина волны: 405±5 нм; 488±5 нм; 561±1 нм; 640±5 нм
Режим вывода: одномодовое волокно с сохранением поляризации (TEM00)
Выходная мощность на одной длине волны: >20 мВт; Стабильность мощности: <1%
Ширина спектральной линии: <3 нм
ТТЛ модуляция: 1 кГц
Точность регулировки мощности лазера: 0.1%; Многоволновая регулировка мощности настраиваемого акустооптического фильтра
Опциональные длины волн: 375/445/473/515/525/532/633/660/ 685/785/808 нм
Датчики SiPM，Длина волны：250-950 нм, QE＞25% при 420 нм
GaAs PMT, 300-740нм, 45% при 520 нм
Модуль сканирования Пиксели сканирования: 128×128 ~ 4096×4096
Время: 0.5-100 мкс
Максимальная скорость сканирования: до 4 кадр\с (512 x 512)
Разрешение по осям XY 230 нм при 100x масляном объективе
Глубина изображения ＜100 мкм
Поле зрения 5X: 1.44×1.44 мм, 10x: 0.72×0.72 мм, 20x: 0.36×0.36 мм, 40x: 0.18×0.18 мм,  60x: 120×120 мкм, 100x: 72×72 мкм
Фильтр DAPI EM 445/50 нм, FITC EM 530/50 нм
TRITC EM 605/60 нм,   Cy5 EM   695/40 нм
Диафрагма 16 малых отверстий фототравления; диаметр от Ø25 мкм до Ø2 мм
Окуляр Широкопольный окуляр WF10X/23; Вынесенная точка фокусировки; Центрирующий телескоп
Окулярная трубка Наклон 45°, регулируемое расстояние между окулярами 50‒75; Регулируемый диоптр
Конвертер объектива Конвертер с внутренним позиционированием на пять отверстий; Шаровая опора для внутреннего позиционирования
Стойка Ручная фиксированная стойка: 240 x 260 мм; Амплитуда движения: 135 x 85 мм
Моторизированная стойка: Минимальный шаг: 50 нм; Повторяемость +/- 0.1 мкм
Максимальная скорость: ≥100 мм/с; Размер стойки: ≥270 x 170 мм
Шаг: X:110 мм, Y:75 мм; Максимальная нагрузка >1 кг (Горизонтальная)
Механизм движения по оси Z Разрешение фокусировки / минимальный шаг: 0.05 мкм; Повторяемость: +/-0.2 мкм;
Максимальный шаг: 10 мм
Механизм фокусировки Коаксиальная грубая \ точная регулировка с ограничителями и фиксаторами,
Низкоуровневый маховик коаксиальной регулировки; Шаг маховика точной регулировки: 1 мкм
Система проходящего освещения Диод тёплого света, регулируемая яркость
Регулятор яркости с вращением светодиода
Конденсатор: 72 мм сверхдальнее рабочее расстояние, NA=0.30; Оснащён фазово-контрастной кольцевой пластиной с тремя отверстиями
Система эпифлуоресцентного освещения Многодиапазонный диодный источник света MG-100
Флуоресцентный модуль с шестью отверстиями
УФ(U)EX: 375/30 нм；DM:415；EM: 460/50 нм
Синий (B)EX: 475/30 нм；DM:505；EM: 530/40 нм
Жёлтый (Y)EX: 540/25 нм；DM:565；EM: 605/55 нм
Красный(R)EX: 620/50 нм；DM:655；EM: 692/45 нм
Функции ПО Обработка локализации многоцветной флуоресценции; Обработка данных карты срезов по оси Z; Сшивка крупных изображений; Анализ изображений; Управление данными изображений; Конструирование 3D изображений

 

 

The post Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп серии SIMSCOP P first appeared on Крио: Фотоника.

]]> https://ph.cryotrade.ru/product/las-scan-confoc-mic/feed/ 0