телефон/факс
Для заказа криогенных жидкостей
Телефон/факс
Для заказа криогенных жидкостей
Высокочувствительный УФ-спектрометр BSI серии М (с обратным засветом) работает на ПЗС-матрице Hamamatsu с обратной засветкой; его чувствительность к УФ-излучению увеличена примерно в 7 раз по сравнению с обычными спектрометрами. Также в его конструкции применяется двойная концентрирующая дифракционная решётка 280 и 760 нм с линейно перестраиваемым фильтром анти-высшего порядка, на основе оптической платформы с фокусным расстоянием 100.0 мм. Спектрометр серии М обеспечивает сбалансированную чувствительность и повышенное разрешение в полном спектре 200~1100 нм, что отвечает требованиям многих научных исследований, в которых применяются спектрометры.
Пиковый 70% отклик на УФ излучение –матрица ПЗС с утонением обратной стороны, более 70% квантовой эффективности в 200 нм ультрафиолете, что удобно для измерений в широком спектре, включая УФ диапазон;
64x2048 Сверхширокая чувствительная поверхность
ПЗС со сверхширокой поверхностью, чувствительность которой увеличена в 4 раза по сравнению 14-ти строчной матрицей ПЗС;
Полный спектр покрытия 200-1100 нм
Спектрометр серии M пользуется преимуществом оптической платформы с фокусным расстоянием 100.0 мм, подходящей для обнаружения полного спектра в диапазоне 200–1100 нм, охватывая всю светочувствительную область детектора, и одновременно увеличивая разрешение на 10%.
Ювелирное дело / Рудная спектроскопия
Настольная рамановская спектроскопия
Настольная ЛИЭС
Прозрачный спектр отражения / поглощения
Измерение цикла флуоресценции
Микроскопическая спектроскопия
| Диапазон обнаружения | 200 ~ 1100 нм, в зависимости от решётки |
| Оптическое разрешение | Наивысшее 0.2 нм (Полуширина), на основе решётки в 1800 штрихов и щели 10 мкм |
| Детектор | Hamamatsu, S10420, 64×2048 пикселей, матрица на 64-линии с задней подсветкой |
| Устранение дифракции высокого порядка | 3 вида фронтальных фильтров и 4 вида постфильтров для устранения побочных линий в спектре |
| Оптическая платформа | Фокусное расстояние 100.0 мм, диафрагменное число 4.5, симметричный перекрестный световой путь КТ |
| Время интеграции | 10 мс ~ 120 с, насыщенность темнового шума более 120 с |
| Динамический диапазон | 5.000:1 - более чем в два раза лучше, чем у аналогичных приборов, что полезно для обнаружения более слабого сигнала. |
| Соотношение сигнал-шум | 800:1 (при насыщении) |
| Рассеянный свет | <0.1% при 600 нм |
| Коррекция линейности | > 99% |
364.87 - 1044.91 нм / Щель 25 мкм / Полуширина 0.66 нм при 794 нм
Длина волны спектрометров серии М, опции оптической щели и разрешения
| Модель | Диапазон длин волн | Частота штрихов решётки / Длина волны блеска | Ширина щели | ||||
| 10 мкм | 25 мкм | 50 мкм | 100 мкм | 200 мкм | |||
| Оптическое разрешение на полувысоте | |||||||
| M/200-1100 | 200-1100 нм | 300/300nm и 550 нм | 1 нм | 1.3 нм | 1.8 нм | 3 нм | 6 нм |
| M/400-1000 | 400-1000 нм | 400 /500 ни | 1.4 нм | 1.5 нм | 1.6 нм | 2.6 нм | 5 нм |
| M/350-800 | 350-800 нм | 600 /500 нм | 0.8 нм | 1 нм | 1.2 нм | 1.6 нм | 3 нм |
| M/530-640 | 530-640 нм | 1800 /500 нм | 0.2 нм | 0.3 нм | 0.4 нм | 0.5 нм | 1 нм |
| M/710-1100 | 710-1100 нм | 600 /800 нм | 0.8 нм | 1 нм | 1.2 нм | 1.6 нм | 3 нм |
| M/780-1060 | 785-1060 нм | 830 /900 нм | 0.38 нм | 0.45 нм | 0.6 нм | 0.95 нм | 1.8 нм |
При необходимости более точных измерений в широком диапазоне длин волн возможен апгрейд спектрометра для повышения количества каналов. Выбранный пользователем диапазон длин волн спектрометра объединяется в единую систему (до 4 каналов) с возможностью выхода через одного или нескольких волокон.
Основной пользовательский интерфейс
