Описание
Конфокальная микроскопия представляет собой метод формирования изображения, позволяющий увеличить оптическое разрешение и контрастность микрофотографий с помощью диафрагмы, отсекающей фоновой рассеянный свет. Захват нескольких двухмерных изображений разной глубины позволяет создать трёхмерное изображение образца.
Данная технология широко применяется в разнообразных научных и промышленных сферах, от биологии и материаловедения, до испытания полупроводников, однако полноценные коммерческие системы конфокальной микроскопии, как правило, дорого стоят.
Компания SIMTRUM предоставляет надёжные системы для микроскопии по разумной цене. Системы серии SIMSCOP P отличаются функциональностью, экономичностью и гибкостью.
Ключевые преимущества
● Профессиональное ПО для анализа изображений с удобным пользовательским интерфейсом,
● Один или несколько лазерных каналов, точность управления мощностью лазера до 0.01%,
● Кремниевый ФЭУ датчик, расширяющий динамический диапазон фотонов и снижающий уровень шума,
● Поддержка скоростного сканирования: 30 кадр сек. на 512 x 512 пикселей (резонансный сканер),
● Компактная модульная конструкция, совместимая с большинством микроскопов,
● Множество вариантов апгрейда и возможностей для экономичного расширения,
Краткая характеристика
Стандартная длина волны:
405 / 488 / 561 / 640 нм (638 нм)
Опциональные длины волн:
УФ:375 нм
VIS:445 / 473 / 515 / 525 / 532 / 633 / 660 / 685 нм
БИК:785 / 808 нм
Модуль шестиканального лазера - опционален.
Высокочувствительный четырёхканальный лазер и система управления
● Четырёхканальный диодный лазер и управляющая печатная плата для высокоскоростного независимого регулирования каждого лазерного канала,
● Интенсивность регулировки лазера 0.01%.
● ТТЛ / Аналоговая модуляция
Кремниевый датчик ФЭУ снижающий шум и улучшающий контроль качества
Оборудование для конфокального микроскопа серии SIMSCOP CM с датчиком SiPM
● Низкое рабочее напряжение,
● Длительный срок службы,
● Широкий динамический диапазон,
● Нечувствительность к магнитному полю,
● Пригодно для скоростной визуализации с шумоподавлением
Кремниевый фотоумножитель (SiPM) представляет собой массив однофотонных лавинных фотодиодов на одной подложке с выходами на общий канал считывания. Каждый элемент работает как детектор фотонов по принципу "всё или ничего" и генерирует импульс стереотипной высоты с низкой вариабельностью. Вместе импульсы от всех элементов формируют выходной сигнал SiPM. Большое количество элементов в массиве (>1000) позволяет без насыщения одновременно обнаруживать множество фотонов и работать с большой активной областью.
Подробные характеристики
Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп серии SIMSCOP - P |
Источник лазерного излучения |
Стандартная длина волны: 405±5 нм; 488±5 нм; 561±1 нм; 640±5 нм
Режим вывода: одномодовое волокно с сохранением поляризации (TEM00)
Выходная мощность на одной длине волны: >20 мВт; Стабильность мощности: <1%
Ширина спектральной линии: <3 нм
ТТЛ модуляция: 1 кГц
Точность регулировки мощности лазера: 0.1%; Многоволновая регулировка мощности настраиваемого акустооптического фильтра
Опциональные длины волн: 375/445/473/515/525/532/633/660/ 685/785/808 нм |
Датчики |
SiPM,Длина волны:250-950 нм, QE>25% при 420 нм
GaAs PMT, 300-740нм, 45% при 520 нм |
Модуль сканирования |
Пиксели сканирования: 128x128 ~ 4096x4096
Время: 0.5-100 мкс
Максимальная скорость сканирования: до 4 кадр\с (512 x 512) |
Разрешение по осям XY |
230 нм при 100x масляном объективе |
Глубина изображения |
<100 мкм |
Поле зрения |
5X: 1.44x1.44 мм, 10x: 0.72x0.72 мм, 20x: 0.36x0.36 мм, 40x: 0.18x0.18 мм, 60x: 120x120 мкм, 100x: 72x72 мкм |
Фильтр |
DAPI EM 445/50 нм, FITC EM 530/50 нм
TRITC EM 605/60 нм, Cy5 EM 695/40 нм |
Диафрагма |
16 малых отверстий фототравления; диаметр от Ø25 мкм до Ø2 мм |
Окуляр |
Широкопольный окуляр WF10X/23; Вынесенная точка фокусировки; Центрирующий телескоп |
Окулярная трубка |
Наклон 45°, регулируемое расстояние между окулярами 50‒75; Регулируемый диоптр |
Конвертер объектива |
Конвертер с внутренним позиционированием на пять отверстий; Шаровая опора для внутреннего позиционирования |
Стойка |
Ручная фиксированная стойка: 240 x 260 мм; Амплитуда движения: 135 x 85 мм
Моторизированная стойка: Минимальный шаг: 50 нм; Повторяемость +/- 0.1 мкм
Максимальная скорость: ≥100 мм/с; Размер стойки: ≥270 x 170 мм
Шаг: X:110 мм, Y:75 мм; Максимальная нагрузка >1 кг (Горизонтальная) |
Механизм движения по оси Z |
Разрешение фокусировки / минимальный шаг: 0.05 мкм; Повторяемость: +/-0.2 мкм;
Максимальный шаг: 10 мм |
Механизм фокусировки |
Коаксиальная грубая \ точная регулировка с ограничителями и фиксаторами,
Низкоуровневый маховик коаксиальной регулировки; Шаг маховика точной регулировки: 1 мкм |
Система проходящего освещения |
Диод тёплого света, регулируемая яркость
Регулятор яркости с вращением светодиода
Конденсатор: 72 мм сверхдальнее рабочее расстояние, NA=0.30; Оснащён фазово-контрастной кольцевой пластиной с тремя отверстиями |
Система эпифлуоресцентного освещения |
Многодиапазонный диодный источник света MG-100
Флуоресцентный модуль с шестью отверстиями
УФ(U)EX: 375/30 нм;DM:415;EM: 460/50 нм
Синий (B)EX: 475/30 нм;DM:505;EM: 530/40 нм
Жёлтый (Y)EX: 540/25 нм;DM:565;EM: 605/55 нм
Красный(R)EX: 620/50 нм;DM:655;EM: 692/45 нм |
Функции ПО |
Обработка локализации многоцветной флуоресценции; Обработка данных карты срезов по оси Z; Сшивка крупных изображений; Анализ изображений; Управление данными изображений; Конструирование 3D изображений |